無錫冠亞射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)

給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。

是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估*的儀器設(shè)備。

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。

微處理器芯片測(cè)試裝置的日常維護(hù)知識(shí)

微處理器芯片測(cè)試裝置的日常維護(hù)知識(shí)

　　由于微處理器芯片測(cè)試裝置基本由電氣、制冷和機(jī)械多個(gè)系統(tǒng)組成，因此一旦設(shè)備出現(xiàn)問題，應(yīng)面面地對(duì)整個(gè)設(shè)備系統(tǒng)進(jìn)行檢查和綜合分析。

　　微處理器芯片測(cè)試裝置一般建議您將其置于溫度為8℃~28℃,對(duì)不具備此條件的實(shí)驗(yàn)室,須配備適當(dāng)?shù)目照{(diào)器。

　　微處理器芯片測(cè)試裝置堅(jiān)持專人專業(yè)管理維護(hù)，有條件的單位應(yīng)不定期派專人到供方工廠培訓(xùn)學(xué)習(xí)，以獲得較專業(yè)的維護(hù)、維修的經(jīng)驗(yàn)和能力。

　　固定每3個(gè)月清洗一次冷凝器，對(duì)于壓縮機(jī)采用風(fēng)冷冷卻的，應(yīng)定期檢修冷凝風(fēng)機(jī)并對(duì)冷凝器進(jìn)行去污除塵以保證其良好的通風(fēng)換熱性能。對(duì)于壓縮機(jī)采用水冷冷卻的，除須保證其進(jìn)水壓力與進(jìn)水溫度外，還須保證相應(yīng)流量，并定期對(duì)冷凝器內(nèi)部進(jìn)行清洗除垢以獲取其持續(xù)的換熱性能。

　　定期清洗微處理器芯片測(cè)試裝置蒸發(fā)器：因試品的潔凈等各異，在強(qiáng)制風(fēng)循環(huán)作用下蒸發(fā)器上會(huì)凝聚很多塵埃等小顆粒物體，應(yīng)定期進(jìn)行清洗。

　　循環(huán)風(fēng)葉、冷凝器風(fēng)機(jī)清潔和平衡與清洗蒸發(fā)器相似，因試驗(yàn)箱的工作環(huán)境各異，循環(huán)風(fēng)葉和冷凝器風(fēng)機(jī)上會(huì)凝聚很多塵埃等小顆粒物體，應(yīng)定期進(jìn)行清洗。

　　微處理器芯片測(cè)試裝置水路與加濕器清洗：若水路不暢、加濕器結(jié)垢易導(dǎo)致加濕器干燒，可能損壞加濕器，所以須定期對(duì)水路與加濕器進(jìn)行清洗。

　　微處理器芯片測(cè)試裝置堅(jiān)持每次試驗(yàn)完畢后將溫度設(shè)定在環(huán)境溫度附近，工作30分鐘左右后再切斷電源,并擦干凈工作室內(nèi)壁。長(zhǎng)期停機(jī)不使用時(shí)應(yīng)定期每半月給產(chǎn)品通電，通電時(shí)間不小于1小時(shí)。