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影響涂層測厚度儀測量的幾個因素
每個測厚度儀都有一個臨界厚度，超過該厚度時，測量不受基底金屬厚度的影響，它對試樣表面形狀的突變很敏感，因此在試樣邊緣或內(nèi)角附近測量不可靠，試件的曲率對測量有影響，并且隨著曲率半徑的減小而明顯增大，因此在彎曲試件的表面進行測量是不可靠的。
基底和涂層的表面粗糙度對測量有影響，隨著粗糙度的增加，影響會增大，粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，在每次測量過程中，應增加不同位置的測量次數(shù)，以克服這種偶然誤差，如果基體上的基體金屬粗糙，需要在未涂層的基體金屬試樣上取幾個粗糙度相近的位置來標定儀器的零點，或者用不腐蝕基體金屬的溶液溶解去除涂層后標定儀器的零點，周圍各種電氣設備產(chǎn)生的強磁場會嚴重干擾磁厚的工作，探針會使軟涂層樣品變形，因此無法在這些樣品上測量可靠的數(shù)據(jù)。須清除阻礙探頭與涂層表面緊密接觸的粘性物質(zhì)，測量時，壓力應保持恒定，探頭應垂直于試件表面，以達到精確測量。磁法測得的厚度受母材變化的影響(在實際應用中，低碳鋼的磁性變化可以通過無損檢測認為是輕微的)，為避免熱處理和冷加工的影響，厚度儀應使用與樣品基底金屬具有相同性質(zhì)的標準件進行校準。
基體金屬的電導率對測量有影響，基體金屬的電導率與其材料成分和熱處理方法有關，應使用與樣品基底金屬具有相同特性的標準件校準儀器。
超聲波測厚度儀探頭的選擇及使用中的注意事項
1.測厚度儀探頭的正確選擇
①測量彎曲工件時，可使用彎曲的探頭護套或小直徑(6mm)的專用探頭，更精確地測量管道等彎曲材料。
②對于晶粒粗大、奧氏體不銹鋼的鑄件，滄州歐應選擇低頻(2.5MHz)的粗晶專用探頭。
③測量高溫工件時，應選用專用高溫探頭(300-600)，不能使用普通探頭。
④探頭表面劃傷時，可用500#砂紙打磨光滑，保證平行度，如果仍然不穩(wěn)定，考慮更換探針。
2.一般情況下，耦合劑應涂在被測材料表面，但當被測溫度較高時，耦合劑應涂在探頭上。
3.不使用儀器時，將探頭擦拭干凈。
4.厚度儀探頭要和儀器探頭一起使用，盡量不要互換，探頭損壞后，要根據(jù)儀器定制探頭。
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