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日本進口TECLOCK得樂數(shù)顯測厚儀介紹 PF-11J PFD SMD
日本進口TECLOCK得樂數(shù)顯測厚儀百分表介紹和使用 PF-11J PFD617 SMD540
日本進口TECLOCK得樂數(shù)顯測厚儀百分表介紹和使用 PF-11J PFD617 SMD540由深圳市安川測量儀器有限公司*銷售日本進口TECLOCK得樂數(shù)顯測厚儀介紹 PF-11J PFD SMD，恒壓數(shù)顯測厚儀用于測量橡膠/熱塑性彈性體、塑料薄膜、布匹、紡織品、皮革等物理測試的試片厚度，具有立式（固定式）和框架式（手提式）兩種類型。
數(shù)顯測厚儀PF-11J
品陣容廣泛，適用于各種行業(yè)標準。
所有機型砝碼式的高精度數(shù)位板，實現(xiàn)了使用齒輪和彈簧等的模擬式量規(guī)無法得到的穩(wěn)定的靜負荷。
PG系列在測量臺上除了使用高平滑性以外，還使用耐磨損性、耐化學藥品性等優(yōu)異的石平臺(微孔石墨)。 不易劃傷，也不用擔心金屬制的請求。 在測量頭砧上尋找不銹鋼銅(部分除外)。 提高了耐酸性、耐堿性、耐水性。
電源是不需要充電的紐扣型電池。 便于攜帶。
■也可以變更測量頭、測量壓力等。 (但不符合標準規(guī)格)
立式測厚儀+臺座PG-20G
測量頭直徑5mm，壓力變更只需裝卸砝碼即可進行。
立式測厚儀+臺座PG-20G
測量頭直徑5mm，壓力變更只需裝卸砝碼即可進行。
數(shù)顯測厚儀使用注意：
1.在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。