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馬波斯WRSP60掃描式測(cè)頭，

通過(guò)對(duì)新部件的輪廓和表面進(jìn)行接觸式掃描，直接在機(jī)加環(huán)境中進(jìn)行精確、完整的質(zhì)量控制。

　　由于WRSP60是無(wú)線電傳輸類型測(cè)頭，它適用于任何類型的芯片分離式機(jī)床。WRSP60測(cè)頭與標(biāo)準(zhǔn)的接觸式測(cè)頭不同，它可進(jìn)行質(zhì)量控制、零件錯(cuò)位矯正和表面變形檢查、修正切割程序，可對(duì)比檢查運(yùn)行和部件定位。

　　系統(tǒng)運(yùn)用集成接口給WRI接收器傳輸數(shù)據(jù)， 數(shù)據(jù)通過(guò)馬波斯先進(jìn)的軟件包進(jìn)行收集、分析 和展示。

　馬波斯第一個(gè)高精度接觸式測(cè)頭被設(shè)計(jì)用 于磨具和磨床。由于其創(chuàng)新的壓電技術(shù)，在3D 幾何表面上也具備高性能。 　　

 這一創(chuàng)新的系統(tǒng)意味著它在每個(gè)觸發(fā)方向 都能夠具有無(wú)預(yù)行程和較小的觸發(fā)力，且在所 有方向重度精度小于1微米。 　　

 由于其緊湊的幾何形狀，它也適合用于非 常小的生產(chǎn)空間。