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聚焦離子束顯微鏡 Helios 5 DualBeam 重新定義了高分辨率成像的標準：高材料對比度，快、簡單、準確的高質(zhì)量樣品制備，用于 S/TEM 成像和原子探針斷層掃描（APT）以及高質(zhì)量的亞表面和 3D 表征。

聚焦離子束顯微鏡特點：

更易于使用：

Helios 5 是所有體驗級別用戶容易使用的 DualBeam。操作員培訓可以從幾個月縮短到幾天，系統(tǒng)設計可幫助所有操作員在各種高級應用程序上實現(xiàn)一致、可重復的結果。

提高了生產(chǎn)率：

Helios 5 和 AutoTEM 5 軟件的先進自動化功能，增強的穩(wěn)健性和穩(wěn)定性允許無人值守甚至夜間操作，顯著提高樣品制備通量。

改善時間和結果：
Helios 5 DualBeam 現(xiàn)在包括 FLASH，這是一種調(diào)整圖像的新概念。對于傳統(tǒng)的顯微鏡，每次操作員需要獲取圖像時，必須通過迭代對中仔細調(diào)整顯微鏡。使用 Helios 5 DualBeam，屏幕上的簡單手勢將激活 FLASH，將自動調(diào)整這些參數(shù)。自動調(diào)整可以顯著提高通量、數(shù)據(jù)質(zhì)量并簡化高質(zhì)量圖像的采集。