SEM掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Prisma E SEM掃描電鏡是一款高度靈活的掃描電子顯微鏡（SEM），在各種條件下都能有出色的全能性能。基于其低真空和環(huán)境掃描的SEM （ESEM）模式，它...
Chiron 250DA智能全自動(dòng)金相磨拋機(jī) 參考價(jià)：面議
Chiron 250DA智能全自動(dòng)金相磨拋機(jī)設(shè)備主要用途磨拋機(jī)適用于對(duì)金相試樣的預(yù)磨、研磨和拋光，是金相制樣中*的設(shè)備。適應(yīng)于經(jīng)過切割，鑲嵌后的各種金屬試樣，如...
Chiron 250D金相磨拋機(jī) 參考價(jià)：面議
Chiron 250D金相磨拋機(jī)設(shè)備主要用途磨拋機(jī)適用于對(duì)金相試樣的預(yù)磨、研磨和拋光，是金相制樣中*的設(shè)備。適應(yīng)于經(jīng)過切割，鑲嵌后的各種金屬試樣，如鋼、銅和銅合...
全自動(dòng)金相磨拋機(jī) 參考價(jià)：面議
Chiron 300DA智能全自動(dòng)金相磨拋機(jī)設(shè)備主要用途磨拋機(jī)適用于對(duì)金相試樣的預(yù)磨、研磨和拋光，是金相制樣中*的設(shè)備。適應(yīng)于經(jīng)過切割，鑲嵌后的各種金屬試樣，如...
Chiron 300D金相磨拋機(jī) 參考價(jià)：面議
Chiron 300D金相磨拋機(jī)設(shè)備主要用途磨拋機(jī)適用于對(duì)金相試樣的預(yù)磨、研磨和拋光，是金相制樣中*的設(shè)備。適應(yīng)于經(jīng)過切割，鑲嵌后的各種金屬試樣，如鋼、銅和銅合...
Orion 300AW 自動(dòng)單頭鑲嵌機(jī) 參考價(jià)：面議
Orion 300AW 自動(dòng)單頭鑲嵌機(jī)設(shè)備主要用途鑲嵌是金相試樣制備過程中的一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)，適用于一些不易手拿的微小的或是形狀不規(guī)則樣品進(jìn)行熱固性壓制，成型...
全自動(dòng)金相切割機(jī) 參考價(jià)：面議
Ares 60A全自動(dòng)金相切割機(jī)，一般指裝有砂輪切割刀片、帶循環(huán)冷卻系統(tǒng)的金相試樣切割的設(shè)備。主要用于棒材、板材、帶材、零部件以及結(jié)構(gòu)件小形狀試樣（巖相）檢驗(yàn)時(shí)...
布萊特 - WAS5焊縫顯微鏡 參考價(jià)：面議
布萊特 - WAS5焊縫顯微鏡WAS5焊縫顯微鏡設(shè)備采用LED發(fā)光組、電動(dòng)變倍和電動(dòng)調(diào)焦系統(tǒng)、自動(dòng)跟蹤對(duì)焦、具有實(shí)時(shí)圖像處理功能。鏡體可正負(fù)傾斜90度拍照，特殊...
布萊特 - MAS600宏觀影像儀 參考價(jià)：面議
布萊特 - MAS600宏觀影像儀M A S 6 0 0宏 觀 影 像 儀備設(shè)采用LED發(fā)光組、全景深觀察及拍攝、自動(dòng)跟蹤對(duì)焦、具有實(shí)時(shí)圖像處理功能。鏡體可正負(fù)...
Q250/Q750/Q3000宏觀通用硬度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
Q250/Q750/Q3000宏觀通用硬度測(cè)試儀品牌介紹：Qness GmbH是奧地利（薩爾茲堡）的一家專業(yè)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和運(yùn)送創(chuàng)新性和硬度測(cè)試用產(chǎn)品的公司。公司較...
Q10/Q30顯微硬度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
Q10/Q30顯微硬度測(cè)試儀品牌介紹：Qness GmbH是奧地利（薩爾茲堡）的一家專業(yè)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和運(yùn)送創(chuàng)新性和硬度測(cè)試用產(chǎn)品的公司。公司較大的優(yōu)勢(shì)之一是擁有一...
全自動(dòng)數(shù)顯顯微硬度計(jì) 參考價(jià)：面議
Cratos W50 顯微硬度計(jì)測(cè)試儀設(shè)備主要用途主要用于小負(fù)荷維氏硬度試驗(yàn)，可測(cè)試小型精密零件、表面硬化層、有效硬化層、鍍層表面、薄片材料、等硬度。由于加載的...
Cratos W50S智能數(shù)顯顯微硬度分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Cratos W50S智能數(shù)顯顯微硬度分析系統(tǒng)：主要用于小負(fù)荷維氏硬度試驗(yàn)，可測(cè)試小型精密零件、表面硬化層、有效硬化層、鍍層表面、薄片材料、等硬度。由于加載的試...
XTrace-基于SEM高性能微區(qū)熒光光譜儀 參考價(jià)：面議
XTrace-基于SEM高性能微區(qū)熒光光譜儀采用了Ｘ射線毛細(xì)導(dǎo)管技術(shù)，利用該技術(shù)，即使在非常小的樣品區(qū)域也能產(chǎn)生很高的熒光強(qiáng)度。Ｘ射線毛細(xì)導(dǎo)管將Ｘ射線源的大部分...
精密刻蝕鍍膜系統(tǒng)PECS II 685 參考價(jià)：面議
精密刻蝕鍍膜系統(tǒng)PECS II 685，一款桌面型寬束氬離子拋光及鍍膜設(shè)備。對(duì)于同一個(gè)樣品，可在同一真空環(huán)境下完成拋光及鍍膜。
ChromaCL2第二代實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
ChromaCL2第二代實(shí)時(shí)彩色陰極發(fā)光成像系統(tǒng)，是一款*的產(chǎn)品。它具有高效的光學(xué)采集和色散能力，采用陣列光電倍增管得到高增益光探測(cè)能力。通過DigitalMi...
Gatan原位加熱臺(tái)Murano 525 參考價(jià)：面議
Gatan原位加熱臺(tái)Murano 525,精悍緊湊，能方便地與大多數(shù)掃描電鏡的標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)接口，它包含一個(gè)絕熱接口，適用于二次電子像、電子背散射衍射（EBSD）與...
MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái) 參考價(jià)：面議
MICROTEST 2000E系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái)，可以對(duì)金屬樣品施加高達(dá)2000N的拉力，用戶EBSD分析，或者對(duì)一些其他材料進(jìn)行常規(guī)的應(yīng)力-應(yīng)變分析和SE...
圖像分析軟件 參考價(jià)：面議
圖像分析軟件詳細(xì)描述：曾經(jīng)是否問過您自己，一個(gè)真正優(yōu)X的圖像處理系統(tǒng)能做些什么？首先，靈活性是基本的。一方面，您想能夠有效和可靠地處理任何工作；另一方面，您想能...
MICROTEST系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái) 參考價(jià)：面議
MICROTEST系列原位動(dòng)態(tài)拉伸試驗(yàn)臺(tái),金屬及鍍層：用于研究晶粒變化、鍍層結(jié)合情況、高溫形變及松弛機(jī)理、晶粒旋轉(zhuǎn)及織構(gòu)變化。復(fù)合材料：用于研究材料韌性及強(qiáng)度;...
GATAN C1000系列冷臺(tái) 參考價(jià)：面議
GATAN C1000系列冷臺(tái),包括冷臺(tái)模塊，制冷溫度為–185°C 到室溫的C1001，制冷溫度為-185°C 到 +200°C...
Gatan SmartEMIC電子束感應(yīng)電流測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Gatan SmartEMIC電子束感應(yīng)電流測(cè)量系統(tǒng)，可以實(shí)時(shí)軟件控制全自動(dòng)采集電子束感生電流（EBIC）信號(hào)，獲得EBIC圖像信息，還可以獲得IV曲線信息，終...
Monarc 陰極熒光系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Monarc 陰極熒光系統(tǒng)，通過突破性的光路設(shè)計(jì)，Monarc 具有顯著增加的靈敏度和譜分辨率，由此帶來的*特色的波長-角度分辨能力，使您能夠進(jìn)行更為完整的陰極...
OTS一鍵夾雜物分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
OTS一鍵夾雜物分析系統(tǒng)是一套集掃描電子顯微鏡、大面積高速能譜探測(cè)器、夾雜物自動(dòng)分析軟件以及樣品潔凈度評(píng) 價(jià)及建議為一體的綜合性分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅具有完備的電...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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