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1、儀器工作原理

原子或離子可處于不連續(xù)的能量狀態(tài)，該狀態(tài)可以用光譜項(xiàng)來(lái)描述；當(dāng)處于基態(tài)的原子或離子吸收了一定的外界能量時(shí)，其核外電子就從基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，而處于激發(fā)態(tài)的原子或離子很不穩(wěn)定，經(jīng)由約秒便躍遷返回基態(tài)，并將激發(fā)所吸收的能量以光的形式放出，將這些光按一定的波長(zhǎng)順序排列即為原子光譜；由于特定元素可產(chǎn)生一系列不同波長(zhǎng)的光，通過(guò)識(shí)別待測(cè)元素的特征光譜存在與否即可進(jìn)行定性分析，根據(jù)該波長(zhǎng)光的強(qiáng)度進(jìn)行定量分析。

激發(fā)臺(tái)中的電極與預(yù)先制備好的金屬樣本之間在激發(fā)過(guò)程中產(chǎn)生電火花?；鸹òl(fā)出的光通過(guò)入射狹縫進(jìn)入光室，通過(guò)光柵分光后，不同波長(zhǎng)的光以不同的角度分開(kāi)，照射到CMOS傳感器上。傳感器將光信號(hào)轉(zhuǎn)化成為電信號(hào)，并通過(guò)測(cè)量系統(tǒng)傳輸給計(jì)算機(jī)，經(jīng)處理后，得出分析結(jié)果。

2、主要技術(shù)參數(shù)

三、儀器技術(shù)特點(diǎn)

設(shè)備可快速的對(duì)金屬材料樣品進(jìn)行元素測(cè)定。光學(xué)系統(tǒng)采用CMOS檢測(cè)器，光譜范圍覆蓋全部典型材料。無(wú)論從低含量元素還是到高含量的元素，它都能準(zhǔn)確、可靠的分析。，針對(duì)不同材料、不同要求，具有性?xún)r(jià)比高的全譜直讀光譜儀，可滿(mǎn)足金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號(hào)識(shí)別、材料研究和開(kāi)發(fā)的應(yīng)用。

1、性能*的光學(xué)系統(tǒng)

帕邢-龍格結(jié)構(gòu)凹面光柵，全譜覆蓋，滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)全元素檢測(cè)的需求。

直射式光學(xué)技術(shù)及采用MgF材料制作的光學(xué)器件，保證紫外區(qū)域的最佳性能。

高分辯率多CMOS讀出系統(tǒng)，更低的暗電流，更好的檢出限，更高的穩(wěn)定性，更強(qiáng)的靈敏度，滿(mǎn)足N的分析要求。