發(fā)射式直讀光譜分析儀器是一種比較成熟的分析方法，在現(xiàn)代分析中起著極其重要的作用。隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，光譜分析及其光源技術(shù)發(fā)展也很迅速，在探討光譜分析基礎(chǔ)理論和研究新光源的同時(shí)，光譜分析儀器的進(jìn)展也很快，目前正向光電直讀方面發(fā)展。

在光譜分析儀器的新光源應(yīng)用方面，由于等離子體光源、空心陰極光源、輝光光源、激光光源等的出現(xiàn)，進(jìn)一步提高了光譜分析的靈敏度和穩(wěn)定性并且擴(kuò)大了光譜分析的應(yīng)用范圍。尤其是等離子體光源，它具有靈敏度高、動(dòng)態(tài)范圍寬、基體干擾少、標(biāo)準(zhǔn)樣品易獲得等優(yōu)點(diǎn)，因此目前已越來(lái)越多地應(yīng)用此光源進(jìn)行化學(xué)光譜測(cè)定，從而更加促進(jìn)了化學(xué)光譜的發(fā)展。

光譜分析儀采用光電分析方法原理設(shè)計(jì)，應(yīng)用新型冷光源進(jìn)行比色分析。用于檢測(cè)各種鋼、鐵、合金、有色金屬以及礦石中有色金屬中碳、硫、錳、磷、硅、鎳、鉻、鉬、銅、鈦、鋅、釩、鎂、稀土等元素的含量。該儀器的部分元素測(cè)量范圍示例： （以鋼中C、S、Mn、P、Si、Cr、Ni等常見(jiàn)元素為例） 
C：0.010～6.000% S：0.0030～2.0000% 
Mn：0.010～20.500% P：0.0005～1.0000% 
Si：0.010～18.000% Cr：0.010～38.000% 
Ni：0.010～48.000% Mo：0.010～7.000% 
ΣRE：0.0100～0.5000% Mg：0.010～0.800% 
Cu：0.010～8.000% Ti：0.010～5.000% 
如多元素分析儀改變測(cè)試條件，該范圍可相應(yīng)擴(kuò)大。

測(cè)量精度：優(yōu)于GB223.3～5-1988、GB223.68～69-1997等標(biāo)準(zhǔn)。

南京第四分析儀器制造有限公司技術(shù)部發(fā)布

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