專為對貴重物品和靜止物體進(jìn)行現(xiàn)場分析而設(shè)計(jì)

ARTAX是個(gè)商業(yè)化的便攜式微區(qū) X 射線熒光光譜儀，設(shè)計(jì)用于滿足對貴重的物品如考古和藝術(shù)品進(jìn)行現(xiàn)場成分分析的需求。
·  對材料的結(jié)構(gòu)和組成進(jìn)行非破壞性的微區(qū)多元素分析，分析元素范圍11Na-92U，空間分辨率達(dá)到70微米。
·  適用于用于現(xiàn)場對各種尺寸、形狀的樣品進(jìn)行無損檢測。
·  模塊化的設(shè)計(jì)允許許多應(yīng)用，文物保護(hù)、考古、刑偵以及商檢等領(lǐng)域。
·  第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術(shù)， 不需要液氮，沒有任何消耗。分辨率優(yōu)于165eV at MnKa 100Kcps。優(yōu)于145eV分辨率探測器可選。
·  靈活的設(shè)計(jì)，樣品檢驗(yàn)時(shí)可以不受空間、樣品尺寸限制。X-Y-Z 三維自動(dòng)定位跟蹤樣品臺，防碰撞保護(hù)，可以自動(dòng)完成點(diǎn)、線、面掃描功能。
·  配有各種靶材的低功率X射線光管、CCD相機(jī)、微聚焦多孔毛細(xì)管鏡、XYZ樣品臺、激光定位系統(tǒng)。
·  微聚焦多孔毛細(xì)管鏡與準(zhǔn)直管相比強(qiáng)度提高1000倍以上。
·  根據(jù)應(yīng)用要求不同，可提供多種配置。
 

ARTAX系統(tǒng)的部件是它的緊湊式的探測頭：
含有設(shè)計(jì)的、fei常緊湊的，具有微聚焦X射線管；
毛細(xì)管聚焦光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生一個(gè)高光強(qiáng)微區(qū)；
一個(gè)緊湊的，高分辨率，無氮且高速/低噪的XFlash® SD探測器；
的觀測、分析、采樣點(diǎn)定位系統(tǒng)。

快捷的X射線光管更換
       測量頭由一個(gè)含有探測器單元、CCD相機(jī)和指示激光組成。位于旁邊的激發(fā)單元，由光管外殼、X射線光管、X射線光學(xué)系統(tǒng)組成，通過鎖緊固定，便于快速更換。這樣的設(shè)計(jì)，令用戶可以選擇合適的激發(fā)源或者靶材，也可以快速跟換X射線光學(xué)系統(tǒng)。
基于三腳架的便攜性
       測量頭、電動(dòng)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)X-Y-Z三向定位平臺和控制模塊都被安置于一具可移動(dòng)的、減震三腳架上。這樣的設(shè)計(jì)使整個(gè)測量系統(tǒng)在工作時(shí)可以根據(jù)被測物的具體形狀和位置自由定位，同時(shí)駁斥重復(fù)性優(yōu)于±10 μm。
輕質(zhì)元素分析
       ARTAX 具有氦氣保護(hù)系統(tǒng)，用于輕質(zhì)元素的測量分析。使用氦氣保護(hù)，測量的范圍可以從在空氣中的Ti(22) 至 U(92) ，下降到 Na(11)。使用氦氣保護(hù)的額外的好處是，使得原本在真空中可能的樣品，避免受到傷害。輕質(zhì)元素檢測性能，使得那些原本重要，卻不被重視的 元素得以被檢測到，如P(15), S(16) 和Cl(17) 以及 Al(13) 和 Si(14)等。
 

其它特性：
由于更加緊湊的測量頭設(shè)計(jì)的樣品測量距離，令樣品可接近性大大改shan；
接觸傳感器可避免藝術(shù)品的損壞
輻射防護(hù)：增加了一個(gè)基本功能，可以直接訪問的終止控制開關(guān)；
如額外的警告燈，門聯(lián)鎖觸點(diǎn)，等；
輕質(zhì)元素測量時(shí)，軟件可以實(shí)現(xiàn)氦氣流量控制；定位激光也可以實(shí)現(xiàn)軟件控制。
功能強(qiáng)大的ARTAX軟件--SPECTRA：
XRF軟件用于控制硬件功能，實(shí)現(xiàn)光譜采集和存儲；
元素識別，峰解譜功能，用于計(jì)算光譜---背景歸一以及峰凈面積計(jì)算；
強(qiáng)大的定性分析、定量計(jì)算功能；
報(bào)告和數(shù)據(jù)輸出功能
同時(shí)顯示100條光譜；
可以創(chuàng)建400萬條光譜的數(shù)據(jù)庫；
基于DCCR算法，進(jìn)行定量計(jì)算（DCCR: Direct Comparison of Counting Rates）
匹配篩選功能，可以在庫軟件中篩選出相似譜線.文物保護(hù)、文物修復(fù)、考古、藝術(shù)品、筆跡鑒定、書畫、刑偵、材料研究、電子、汽車、航空航天等領(lǐng)域。