由亞洲光伏產(chǎn)業(yè)協(xié)會（APVIA）、中國可再生能源學(xué)會（CRES）、中國循環(huán)經(jīng)濟(jì)協(xié)會可再生能源專業(yè)委員會（CREIA）、上海市經(jīng)濟(jì)團(tuán)體聯(lián)合會（SFEO）、上海科學(xué)技術(shù)交流（SSTEC）、上海新能源行業(yè)協(xié)會（SNEIA）牽頭并邀請美國太陽能行業(yè)協(xié)會（SEIA）等25個(gè)機(jī)構(gòu)和組織聯(lián)合主辦的“SNEC第十四屆(2020)太陽能光伏與智慧能源(上海)展覽會暨論壇"（簡稱“SNEC光伏大會暨(上海)展覽會"）將于2020年8月8-10日在上海新博覽隆重舉行。

01
展會詳情
鉑悅展位號：W2-102
時(shí)間：2020年8月8日~10日
地點(diǎn)：新博覽（上海浦東新區(qū)龍陽路2345號）

02
展館示意圖

【展示產(chǎn)品】

德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）
德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺階儀這項(xiàng)性能的提到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

光學(xué)輪廓儀Contour GT
用于工藝質(zhì)量監(jiān)控定標(biāo)性測試系統(tǒng)ContourGT-X是實(shí)驗(yàn)室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的高性能儀器。它積累了*代產(chǎn)品在白光干涉技術(shù)上的創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)了快速地三維表面測量，從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺階的測量，垂直分辨率可達(dá)亞納米級。可編程的XYZ控制和的掃描頭自動(dòng)控制，使得儀器操作簡便易行。配備新的Vision64軟件，具有業(yè)界強(qiáng)的儀器測量和數(shù)據(jù)分析功能，而其優(yōu)化設(shè)計(jì)的用戶界面為使用者自行定義自動(dòng)測量和數(shù)據(jù)分析提供了很大的便利。

微區(qū)X射線熒光光譜儀 M4 TORNADO
微區(qū)X射線熒光光譜儀設(shè)備主要應(yīng)用于環(huán)境領(lǐng)域，可以快速的對不同種類的動(dòng)植物樣品進(jìn)行無損掃描，在此基礎(chǔ)上也可對大面積樣品進(jìn)行元素分布成像研究。例如土壤重金屬的植物修復(fù)，超富集植物蜈蚣草抗砷機(jī)制研究，植物根莖葉樣品的元素遷移過程、不同階段元素含量變化以及元素成像分析等。

I-V 曲線測試儀 PV200
PV200為光伏系統(tǒng)提供了一個(gè)率和的測試及診斷解決方案，能夠根據(jù)IEC 62446標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行投運(yùn)試驗(yàn)，并且根據(jù)IEC 61829快速，準(zhǔn)確的測試IV曲線。配合使用Solar Surver 200R輻照度計(jì)，PV200能將測量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為STC標(biāo)準(zhǔn)值，是使用PV***或者SolarCert Elements上位機(jī)軟件，均支持與PV組件的出廠標(biāo)定值進(jìn)行直接對比。
PV200使用者
1. 光伏發(fā)電系統(tǒng)安裝人員
2. 光伏發(fā)電操作人員和測試技術(shù)人員
3. 光伏組件制造商

馬上聯(lián)系我們

▲掃描二維碼“識別"關(guān)注