ThermoHeliosG4PFIB HXeDualBeam電子顯微鏡      ThermoHeliosG4PFIB HXeDualBeam電子顯微鏡

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瑞軒電子科技（上海）有限公司-------*儀器儀表供應(yīng)商
是全國儀器儀表行業(yè)“產(chǎn)品研發(fā)、銷售、技術(shù)培訓(xùn)、設(shè)備維修”為一體供應(yīng)商
公司主要經(jīng)營：
一、傳感與測量儀器 （GE druck, GE Panametrics,GE Bently,Wika,HBM,Tektronix,BEAMEX,SIKA,EA等進(jìn)口品牌)
二、氣體檢測儀（美國華瑞RAE,羅維朋lovibond，德爾格Draeger等進(jìn)口品牌)
三、實(shí)驗(yàn)室儀器（德國IKA，美國奧豪斯，德國miccra，中科中佳，美國伯樂等進(jìn)口品牌)
四、水質(zhì)檢測儀（美國哈希hach,安捷倫等品牌）
五、氣動(dòng)液壓元件（派克Parker,杰威爾Juwel,力士樂Rexroth,英國webtec等品牌）
六、無損檢測儀（德國KK，日本新寶，阿聯(lián)酋olip-systems，美國spellman等品牌）

Thermo Scientific Orion StarpH 值/ISE/電導(dǎo)率/RDO/DO 便可以滿足您 500計(jì)時(shí)功能可以按特定時(shí)間間較高的電流，感謝級(jí)和室內(nèi)Nav-的個(gè)別應(yīng)用需要感謝穩(wěn)定性和精度150毫米皮埃佐級(jí)和室內(nèi)Nav-凸輪。基于集模式(如SmartScan、™和dcfi)的無偽影成像。展的細(xì)節(jié)的級(jí)埃爾斯塔爾™掃描電鏡柱與大電流UC+單色儀技術(shù)，使納米掃描電鏡圖像分辨率和表面敏感性。用下一代2.5μA Xenon等離子體FIB(PFIB2.0)柱進(jìn)吞吐量和質(zhì)量相關(guān)的三維表征、橫截面和微加工?，F(xiàn)高生產(chǎn)率，無窗簾準(zhǔn)備大面積截質(zhì)量的TEM板與自動(dòng)搖滾機(jī).現(xiàn)特殊的低千伏離子束性能，使材料靈敏度和樣品制備損傷低使用可選的MultiChem或GIS氣體輸送系統(tǒng)，體驗(yàn)電子和離子束誘導(dǎo)沉積和在FIB-SEM系統(tǒng)上刻能力具有Dx和DE化學(xué)成分的常規(guī)和低k介質(zhì)銅金屬化的去加工.和碾磨的包裝材料與等離子FIB為基礎(chǔ)的化學(xué)和配方。