電子天平的內校砝碼校正的方法

技術領域：本發(fā)明涉及一種電子天平的內校砝碼校正的方法，屬衡器領域。

背景技術：

由于電子天平的相對精度很高，均在百萬分之一以上，當受到環(huán)境溫度變化，天平自身通電后發(fā)熱的溫度變化，元器件的老化，空氣壓力的變化，水平位置的變化等多種因素的影響，都會使稱重結果不正確，因此，在很多電子天平中都裝有內部校正砝碼，當當受到溫度等外部環(huán)境影響時。即時用內部校正砝碼對天平進行重新校正，修改校正系數，使天平恢復正確的稱重結果，這對電子天平的稱重是非常必要的。而電子天平的內校砝碼的生產有較高的要求，它對砝碼材料密度、磁化率、砝碼表面光潔度均有很高的要求外，對砝碼實際質量的準確性有較高的要求，如天平的實際分度值為0.1mg，則內部校正砝碼的實際質量誤差就應小于0.05mg，這樣的要求給砝碼生產過程中的調整帶來困難，同時由于經常使用帶來的磨損及氧化等造成砝碼質量變化，產生校正偏差，這對內部校正砝碼進行修正相當困難，目前尚沒有行之有效的內部校正砝碼的校正方法。