現(xiàn)代室內(nèi)外對(duì)于各種裝飾性和功能性照明的使用已經(jīng)廣泛普及，對(duì)于照明的組件要求越來(lái)越高。球形燈珠采用LED芯片做為發(fā)光體，具有較高的發(fā)光效率，熱量低、壽命長(zhǎng)，可適應(yīng)溫度范圍寬，外觀造型靈活多變，可營(yíng)造明亮、多樣的視覺(jué)氛圍。

然而球形燈珠容易損壞失效，失效原因有可能是內(nèi)部的鍵合球過(guò)大、過(guò)小、鍵合不牢、虛焊等。這些可以通過(guò)對(duì)球形燈珠進(jìn)行切片制備，結(jié)合顯微觀察分析出具體原因。

本文選取1個(gè)LED球形燈珠，分享其切片制備方法。

圖1.原始樣品

1、 鑲嵌

樣品較小，為了更好地保存樣品、便于研磨和后續(xù)的自動(dòng)拋光，將它鑲嵌成直徑25 mm尺寸大小的圓柱塊。

鑲嵌采用澆注冷鑲嵌的方法，選用標(biāo)樂(lè)型號(hào)為EpoKwick TM ^FC的環(huán)氧樹(shù)脂及相應(yīng)固化劑套裝，這款樹(shù)脂流動(dòng)性很好、收縮率較低，對(duì)樣品的保護(hù)效果很好。鑲嵌流程如下圖所示。

圖2.鑲嵌流程示意圖

該過(guò)程還使用了型號(hào)為SamlKupTM的模杯，模杯直徑為25 mm，并配合型號(hào)為Release Agent的脫模劑使用。

2、 磨拋

研磨與拋光采用標(biāo)樂(lè)的手自一體磨拋機(jī)AutoMet250的手動(dòng)和半自動(dòng)模式。參數(shù)如下表所示。

表1.機(jī)械磨拋參數(shù)

研磨拋光步驟可選擇適于硅和有色金屬的通用耗材，由于燈珠內(nèi)部LED芯片很小，尤其是鍵合球和金線，制備過(guò)程關(guān)鍵的是定位磨拋，定位過(guò)程需要借助顯微鏡觀察。

研磨階段磨至金線邊緣，且注意保持切面不偏離。9 µm拋光步驟仍具有一定去除材料的作用，但是又不會(huì)給材料造成過(guò)多的損傷，因此可以在9 µm拋光階段，將樣品從金線邊緣拋至金線中間，這樣保守的步驟，是為了能夠在9 µm拋光階段充分地去除研磨階段造成的損傷。接下來(lái)便可通過(guò)3 µm拋光步驟去除9 µm拋光步驟帶來(lái)的損傷。由于3 µm的金剛石粒徑很小了，不會(huì)再引入劃痕以外的明顯的損傷，最后可直接進(jìn)行0.05 µm氧化鋁拋光步驟，此間幾乎不會(huì)對(duì)樣品起到去除的作用，僅將光鏡下較明顯的劃痕抹除，得到光亮的平面。

3、 顯微觀察

最終研磨結(jié)果如下圖：

圖4.LED球形燈珠內(nèi)部鍵合球截面

以上光鏡圖示中，燈珠內(nèi)部結(jié)構(gòu)完整。更細(xì)微的形貌特征可進(jìn)一步采用高倍電鏡進(jìn)行觀察分析，如需分析納米級(jí)別的形貌特點(diǎn)，建議在此基礎(chǔ)上進(jìn)行離子束拋光后觀察。

4、 小結(jié)：

1） 鑲嵌時(shí)要保證樣品垂直；

2） 定位研磨時(shí)，需要適時(shí)觀察研磨位置，避免研磨掉目標(biāo)點(diǎn)；

3） 以上研磨與拋光參數(shù)對(duì)當(dāng)前樣品有效，僅供參考，可根據(jù)具體樣品的材料類(lèi)型進(jìn)行調(diào)整。

5、 所用儀器：

標(biāo)樂(lè)手自一體研磨機(jī)AutoMet250：

徠卡金相顯微鏡DVM6：