快速溫變試驗(yàn)箱 老化測試設(shè)備

產(chǎn)品用途
溫度快速變化試驗(yàn)箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟邷氐蜏乜焖僮兓沫h(huán)境下、檢驗(yàn)其各性能項(xiàng)指標(biāo)。

1 整個(gè)箱體采用整體結(jié)構(gòu)。箱體結(jié)構(gòu)
2 箱體內(nèi)側(cè)采用1.0mm進(jìn)口SUS304B不銹鋼板，外側(cè)采用1.0mm 冷軋鋼板噴塑，保溫材料采用超細(xì)玻璃保溫棉。
3 大門密封采用雙層硅橡膠密封材料。
4 觀察窗為多層導(dǎo)電膜鋼化中空玻璃，尺寸大小為350×500mm為防止低溫時(shí)玻璃結(jié)霜，特設(shè)內(nèi)置式特制安全電壓發(fā)熱絲環(huán)繞加熱帶供電電壓36V，并設(shè)有照明燈，為觀察提供照明。
5 在箱體側(cè)面設(shè)有帶塞子的φ50mm測試孔，塞子材料為硅橡膠低發(fā)泡，能耐高低溫，兼具保溫效能。
6 在箱體工作室后側(cè)設(shè)置有一個(gè)空氣調(diào)節(jié)柜，在其間安裝 加濕器、蒸發(fā)器、電加熱器、風(fēng)機(jī)、風(fēng)機(jī)蝸殼等設(shè)備。
7 溫度傳感器置于出風(fēng)口。
8 試驗(yàn)箱內(nèi)的送風(fēng)方式為上送風(fēng)下回風(fēng)方式制冷系統(tǒng)

快速溫變試驗(yàn)箱 老化測試設(shè)備

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍 ：-85 ~ 150℃/-60~ 150℃/-50~ 150℃/-40~ 150℃/-20~ 150℃。
2.快速溫變范圍：-85機(jī)型：-75~ 85℃

   -70機(jī)型: -65~ 85℃

   -60機(jī)型：-55~ 85℃

   -50機(jī)型：-45~ 85℃

   -40機(jī)型：-35~ 85℃

   -20機(jī)型：-15~ 85℃

3.升降溫速率：2℃/分鐘，3℃/分鐘，5℃/分鐘，8℃/分鐘，10℃/分鐘，15℃/

分鐘線性平均或非線性平均
4.控制穩(wěn)定度 ： ±0.5℃
5.分布均勻度：±1.5℃
6.溫度偏差：≤±2℃
7.正常升溫時(shí)間：20℃~ 150℃小于45分鐘。
8.正常降溫時(shí)間：20~-85℃小于100分鐘，20~-60℃小于70分鐘，20~-50℃小

于65分鐘 20~-40℃小于60分鐘， 20~-50℃小于45分鐘

標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2424.1-2015環(huán)境試驗(yàn)

GB/T2424.2-2015電工電子環(huán)境試驗(yàn)箱：濕熱試驗(yàn)導(dǎo)則。

GB/T2424.5-2021環(huán)境試驗(yàn) 第3部分

GB/T2424.6-2021環(huán)境試驗(yàn) 第3部分

GB/T2424.7-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

GB/T2424.27-2013環(huán)境試驗(yàn)

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A:低溫

GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫

GJB150.3-2009 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)

GJB150.4-2009 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)