目錄:束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司>>MDP>> 臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工 |
|---|
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
易ID和抗PID的太陽能電池 重現(xiàn)性
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
臺(tái)式PID（Potential Induced Degradation）潛在誘導(dǎo)退化測試儀，用于c-Si太陽能電池和光伏迷你組件的售前和安裝后質(zhì)量檢測。
標(biāo)準(zhǔn)：IEC 62804-TS，SEMI PV75-1016
可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導(dǎo)率、泄漏電流、濕度和溫度
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
6
化工儀器網(wǎng)