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產(chǎn)品介紹
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開(kāi)發(fā)的測(cè)量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個(gè)電場(chǎng)，通過(guò)激光照射到電場(chǎng)中的樣品上，光電檢測(cè)器在 12°角檢測(cè)樣品顆粒電泳運(yùn)動(dòng)造成的散射光的多普勒頻移，進(jìn)而得到體系的 Zeta 電位信息。
基本性能指標(biāo)
Zata電位測(cè)試
檢測(cè)角度 | 12° |
Zeta范圍 | 無(wú)實(shí)際限制 |
電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
電導(dǎo)率范圍 | 0-260 mS/cm |
Zeta測(cè)試粒徑范圍 | 2 nm – >120 μm |
趨勢(shì)測(cè)試
| 模式 | 時(shí)間和溫度 |
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍 | -15℃-120℃ |
冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
標(biāo)準(zhǔn)激光光源 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
相關(guān)器 | 最多 4000通道，1011動(dòng)態(tài)線(xiàn)性范圍 |
檢測(cè)器 | APD （高性能雪崩光電二極管） |
光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng) |
檢測(cè)參數(shù)
●Zeta 電位
●Zeta 電位分布
●電導(dǎo)率
檢測(cè)技術(shù)
●電泳光散射
選配件
● BAT-1自動(dòng)滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴(lài)性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試，具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴(lài)于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。
● BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線(xiàn)等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀(guān)結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
