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日本日立臺(tái)式顯微鏡TM3030Plus概述

2014年8月4日，日立高新推出新款臺(tái)式電鏡TM3030Plus。TM3030Plus配置了高靈敏度的探測(cè)器，可以在低真空狀態(tài)下觀察二次電子圖像，并且無(wú)需樣品制備即可進(jìn)行實(shí)時(shí)二次電子成像。

日立高新在2005年4月推出了*臺(tái)臺(tái)式電子顯微鏡，使得電鏡的使用更加友好簡(jiǎn)便。臺(tái)式電鏡緊湊的尺寸和穩(wěn)定性更適用于復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境，并擴(kuò)展了電鏡的整體可用性,這種桌面型設(shè)計(jì)永遠(yuǎn)的改變了電鏡的應(yīng)用范圍。目前，各地都在使用臺(tái)式電鏡，主要是私營(yíng)企業(yè)、政府機(jī)構(gòu)、科技博物館以及從小學(xué)、初中到大學(xué)的教育機(jī)構(gòu)。至2014年9月，日立高新在全球?qū)⒂谐^(guò)2700臺(tái)臺(tái)式電鏡在使用。

迄今為止，臺(tái)式電鏡的主要價(jià)值體現(xiàn)在它的便捷性，以及可獲取比光學(xué)顯微鏡放大倍數(shù)更高的圖像。近期，由于臺(tái)式電鏡已成為高通量篩選方法的一個(gè)重要組成部分，對(duì)其性能也提出了更高的要求。新型TM3030Plus配置了專(zhuān)門(mén)的高靈敏度低真空二次電子探測(cè)器可以觀察樣品表面的細(xì)節(jié)信息。在低真空模式下，TM3030Plus無(wú)需樣品處理就可獲取二次電子圖像和反射電子圖像。因而，TM3030Plus提高了工作效率并可獲取更多的樣品信息，滿(mǎn)足了如今日益增長(zhǎng)的復(fù)雜的顯微應(yīng)用。

背散射電子圖像                                             二次電子圖像

日本日立臺(tái)式顯微鏡TM3030Plus特點(diǎn)

★ 在低真空模式下進(jìn)行二次電子和背散射電子成像。
★ 結(jié)合二次電子和背散射電子信息進(jìn)行復(fù)合成像。
★ 強(qiáng)大的自動(dòng)化功能界面，操作簡(jiǎn)單。
★ 低真空觀測(cè)，無(wú)需樣品制備。
★ 日立優(yōu)化的電子光學(xué)系統(tǒng)，提供無(wú)與LUN比的成像性能。
★ 全面的可選配附件。