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XRF-1800型波長色散型X射線熒光光譜儀

世界*250μm微區(qū)分布成像分析功能！

XRF-1500/1700系列X射線熒光光譜儀是在世界上首先開發(fā)出微區(qū)分析/分布分析功能，并*采用了4KW薄窗X射線管，擴(kuò)大了X射線熒光分析的應(yīng)用領(lǐng)域，作為具有革命性的儀器而得到了很高評價(jià)，業(yè)已銷售200余臺。
掃描型X射線熒光光譜儀 XRF-1800型從儀器的硬件與軟件在許多細(xì)節(jié)都進(jìn)行了改進(jìn)，使得儀器的可靠性與可操作性更進(jìn)一步提高，增加了世界*的250μm微區(qū)分布成像分析功能，從而達(dá)到更高水平的*程度。作為高靈敏度和微區(qū)分析的*，島津公司非常自信地向用戶奉獻(xiàn)出的XRF-1800型X射線熒光光譜儀。

· 在波長色散型裝置中，世界*250μm微區(qū)分布成像分析功能（已取得）

可分析不均勻樣品的含量分布、強(qiáng)度分布。

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稀土元素礦石的XRF-1800成像分析實(shí)例

· 利用高次譜線進(jìn)行準(zhǔn)確的定性/定量分析（申請中）

高次譜線的判定更加準(zhǔn)確，提高了定性定量分析的準(zhǔn)確度/可靠性。

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利用XRF-1800的高次譜線分析剎車片實(shí)例

· 測定高分子薄膜的膜厚與無機(jī)成分分析的背景基本參數(shù)(BG-FP)法

  利用康普頓散射/瑞利散射的強(qiáng)度比計(jì)算出熒光X射線分析不能得到的氫（H）元
  素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普頓散射線的理論強(qiáng)度作為高分子薄膜
  的信息。

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使用XRF-1800進(jìn)行的膜厚測定、薄膜測定實(shí)例

· 微區(qū)分析結(jié)構(gòu)
獨(dú)自開發(fā)的特殊形狀的滑動(dòng)式視野限制光欄，利用r方向滑動(dòng)與樣品旋轉(zhuǎn)控制的q轉(zhuǎn)動(dòng)，可以在30mm直徑內(nèi)的任意位置進(jìn)行分析。

· 利用CCD相機(jī)可以直接觀察樣品（選配件）
在測定室導(dǎo)入樣品的位置上，將樣品容器按照與測定位置相同的方式放置，通過CCD攝取樣品的圖像，可使測定位置與圖像相吻合。
（申請中）

· 配備高可靠性、長壽命的4kW薄窗Ｘ射線管
配備平均壽命在5年以上的高可靠性Ｘ射線管。與傳統(tǒng)的3kWＸ射線管相比，輕元素的分析靈敏度提高2倍以上。

· 集成島津技能精華的模塊功能,匹配分析功能
對應(yīng)于液體、粉末、固體、金屬、氧化物等不同形態(tài)的樣品具有相應(yīng)的分析條件，在這基礎(chǔ)上可編制*的分析條件。可根據(jù)不同材質(zhì)
判定、品種分類、品種判定、*性檢索這4種匹配功能進(jìn)行判定、檢索。