德國(guó)E+H恩德斯豪斯雷達(dá)物位計(jì)德國(guó)進(jìn)口

非接觸式測(cè)量。適用于各種惡劣工況（例如有毒高侵蝕性），且不受被測(cè)介質(zhì)物理特性變化影響的外部測(cè)量。

主要型號(hào)有：FMR230,FMR231,FMR240,FMR244,FMR245,FMR250,FMR530,FMR531,FMR532,FMR533
接觸式測(cè)量。與被測(cè)介質(zhì)的物理特性變化無(wú)關(guān)。耐溫達(dá)150度，耐壓達(dá)40bar。
主要型號(hào)有：FMP40,FMP41C,FMP45
無(wú)需標(biāo)定和維護(hù)。適用于所有液體，亦適用于粘結(jié)、攪拌及含氣泡的介質(zhì)，與被測(cè)介質(zhì)的介電常數(shù)無(wú)關(guān)。耐溫達(dá)150度，耐壓達(dá)64bar.
型號(hào)有:FTL50,FTL51,FTL51C,FTL50H,FTL51H,FTL70, FTL71,FTL20,FTL260。
FTL375P音叉物位測(cè)量?jī)x  無(wú)需標(biāo)定和維護(hù)。適用于顆粒直徑小于10mm的顆粒及粉塵，耐溫高達(dá)150度，耐壓達(dá)16bar。

型號(hào)有：FTM50,FTM51,FTM52,FTM30/31/32（D/S）,FTM20/21,FTM260
FTL375P音叉物位測(cè)量?jī)x    L375N音叉物位測(cè)量?jī)x  FTL325P音叉物位測(cè)量?jī)x  FTL325N音叉物位測(cè)量?jī)x
FDL60音叉物位測(cè)量?jī)x    FTL71音叉物位測(cè)量?jī)x  FTL70音叉物位測(cè)量?jī)x  FTL51C音叉物位測(cè)量?jī)x
FML621音叉物位測(cè)量?jī)x

智能化壓力傳感，適用于液體、漿料、泥漿，與泡沫及介電常數(shù)無(wú)關(guān)。耐溫高達(dá)100度，耐壓達(dá)4bar。
主要型號(hào)有：DB50,DB50L,DB51,DB52,DB53,FMX167,FMX165,FTC51,FTC52,FTC53
DB53A靜壓物位測(cè)量?jī)x  DB52A靜壓物位測(cè)量?jī)x  FMB70靜壓物位測(cè)量?jī)x  FMX167靜壓物位測(cè)量?jī)x
E+H電容式物位計(jì)及開(kāi)關(guān)：適合于各種液體，同樣適用于侵蝕性介質(zhì)和粘結(jié)介質(zhì)。耐溫達(dá)400讀，耐壓達(dá)500bar。

庫(kù)存管理或貿(mào)易結(jié)算的高精度液位計(jì)量 主要用于石油成品油及化學(xué)用品液體的精度測(cè)量，測(cè)量精度主要在1MM以內(nèi)，基本上采用調(diào)頻連續(xù)波原理。價(jià)格昂貴，應(yīng)用量也有限，故只有少數(shù)公司生產(chǎn)，有適用于不同場(chǎng)合的喇叭、拋物面及陣列天線.

用于過(guò)程物位監(jiān)測(cè) 由于工業(yè)過(guò)程種類(lèi)繁多，儀表必須適應(yīng)各種介質(zhì)，以及不同的溫度、壓力范圍。精度約為0.1%FS或者5mm。這幾年，過(guò)程級(jí)微波物位計(jì)發(fā)展很快，主要是加速普及。在性能提高的同時(shí)，價(jià)格也相對(duì)適中，適用于更多工況。固態(tài)物料料位，特別是氣體輸送料狀料位（煙灰、成品水泥）一直是物位測(cè)量中的難題，但是雷達(dá)物位計(jì)可以穩(wěn)定、可靠的測(cè)量。天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對(duì)此信號(hào)進(jìn)行處理，識(shí)別出微脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號(hào)識(shí)別由智能軟件完成，精度可達(dá)到毫米級(jí)。距離物料表面的距離D與脈沖的時(shí)間行程T成正比：

　　D=C×T/2
　　其中C為光速
　　因空罐的距離E已知，則物位L為：
　　L=E-D通過(guò)輸入空罐高度E（=零點(diǎn)），滿罐高度F（=滿量程）及一些應(yīng)用參數(shù)來(lái)設(shè)定，應(yīng)用參數(shù)將自動(dòng)使儀表適應(yīng)測(cè)量環(huán)境。對(duì)應(yīng)于4－20mA輸出。

智能雷達(dá)物位計(jì)的測(cè)量條件

測(cè)量范圍從波束觸及罐低的那一點(diǎn)開(kāi)始計(jì)算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當(dāng)物位低于此點(diǎn)時(shí)無(wú)法進(jìn)行測(cè)量。

若介質(zhì)為低介電常數(shù)當(dāng)其處于低液位時(shí)，罐低可見(jiàn)，此時(shí)為保證測(cè)量精度，建議將零點(diǎn)定在低高度為C 的位置。

理論上測(cè)量達(dá)到天線*的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測(cè)量范圍的終值應(yīng)距離天線的*至少100mm。

對(duì)于過(guò)溢保護(hù)，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。zui小測(cè)量范圍與天線有關(guān)。

隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進(jìn)行測(cè)量的。

這是迄今為止可實(shí)際投入工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用僅有的一種可以準(zhǔn)確檢測(cè)固體物料和體積的創(chuàng)新和成熟技術(shù)，JIEKES介可視3D物位體積掃描儀不受物料種類(lèi)，物化性能，貯存物料間，開(kāi)放倉(cāng)或料倉(cāng)的類(lèi)型和尺寸的影響并適用于惡劣的物料貯存環(huán)境。JIEKES介可視3D物位體積掃描儀利用三個(gè)信號(hào)傳送器發(fā)射低頻脈沖，并接受來(lái)自筒倉(cāng)，開(kāi)放倉(cāng)或者其他料位倉(cāng)內(nèi)物料表面的脈沖回波。通過(guò)使用三個(gè)喇叭口天線，設(shè)備不僅能夠監(jiān)測(cè)到每個(gè)回波的時(shí)間/距離，還能監(jiān)測(cè)到回波的方向。

設(shè)備的數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行取樣和分析，非常準(zhǔn)確的監(jiān)測(cè)出物料的物位、體積和質(zhì)量，生成料倉(cāng)內(nèi)物料的實(shí)際分布狀況的三維立體圖像，并在遠(yuǎn)程

電腦上顯示出來(lái)。JIEKES介可視3D物位體積掃描儀這款*的產(chǎn)品實(shí)際上可以監(jiān)測(cè)儲(chǔ)存在各種料倉(cāng)包括筒倉(cāng)，大型開(kāi)放倉(cāng)，固體物料儲(chǔ)存室，堆場(chǎng)和倉(cāng)庫(kù)中的各種散狀固體物料，標(biāo)出料倉(cāng)內(nèi)的物料物位以及繪制出物料隨時(shí)變化兒隨機(jī)形成的不規(guī)則表面形狀，計(jì)算出物料的實(shí)際體積，使物位監(jiān)測(cè)水平達(dá)到了新的高度，從而可以提供方案解決目前技術(shù)無(wú)法解決的問(wèn)題。JIEKES介可視3D物位體積掃描儀器所發(fā)出的低頻聲波可穿透懸浮的粉塵，而不像其他技術(shù)非常惡劣環(huán)境下測(cè)量時(shí)會(huì)存在疑惑的信號(hào)。聲波信號(hào)含有的自潔功能可防止材料黏附在JIEKES介可視3D物位體積掃描儀設(shè)備的內(nèi)表面，從而保證在任何惡劣的環(huán)境下以非常低的維護(hù)量進(jìn)行長(zhǎng)期可靠的工作。

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