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零下30度低溫試驗(yàn)箱該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
按照下列標(biāo)準(zhǔn)或其結(jié)合為依據(jù)而制造：
GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 
零下30度低溫試驗(yàn)箱主要技術(shù)指標(biāo)：
1、溫度范圍：-70℃、-40℃、-20℃、0℃～+150℃
2、溫度波動度：±0.5℃
3、溫度偏差：≤2℃
4、升溫時間：每分鐘約3℃（非線性空載）
5、降溫時間：每分鐘約1℃（非線性空載）
安全保護(hù)裝置：
1、電源超載、控制回路過載、短路保護(hù)
2、接地保護(hù)、電機(jī)過載保護(hù)
3、超溫保護(hù)
4、為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會自動切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。