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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
銷售美國.J.A.Woollam的M-2000 光譜型橢偏儀
無論是科研還是工業(yè)生產(chǎn)，M-2000都可以滿足您的需求，多樣的配置選項滿足不同用戶的要求。旋轉(zhuǎn)補償*技術(shù)保證Delta的準確測量，CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內(nèi)完成。 可選光譜范圍： 可選變角： 手動連續(xù)可變 自動連續(xù)可變 25×60微米 M-2000 光譜型橢偏儀
V型 370－1000nm
U型 245－1000nm
D型 193－1000nm
紅外擴展 1000－1700nm
特殊微光斑選件：
無論是科研還是工業(yè)生產(chǎn)，M-2000都可以滿足您的需求，多樣的配置選項滿足不同用戶的要求。旋轉(zhuǎn)補償*技術(shù)保證Delta的準確測量，CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內(nèi)完成。
Alpha-SE 光譜型橢偏儀
α-SE是一款高性價比的光譜型橢偏儀。簡約設(shè)計，理想的薄膜分析工具。計算機通過USB口控制儀器、數(shù)據(jù)采集。配置易用的數(shù)據(jù)分析軟件 易于使用 帶有高級選項的按鈕式操作 軟件技術(shù)* 基于旋轉(zhuǎn)補償*技術(shù) 高速測量 十秒內(nèi)完成180個波長的測量及數(shù)據(jù)的擬合 功能強 提供厚度、光學常數(shù)、表面粗糙、界面層等 各種數(shù)據(jù) 應(yīng)用范圍 適用于各類可見光譜段薄膜的研究及日常工藝控制
V-VASE 光譜型橢偏儀
V-VASE是一款經(jīng)典的自動可變角，單色儀分光的光譜橢偏儀?？蓱?yīng)用于半導體、電介質(zhì)、聚合物、金屬、等各類薄膜的研究和分析。自動相位延遲技術(shù)保證了測量準確性，*的工藝保證了測試重復性。具有靈活多變測試功能的V-VASE可用于各類研究中。
IR-VASE 光譜型橢偏儀
IR-VASE可應(yīng)用于紅外材料光學特性的測量及分析，IR-VASE在半導體上可應(yīng)用于摻雜濃度的測量。超寬光譜適合各種紅外材料，旋轉(zhuǎn)補償技術(shù)保證測試數(shù)據(jù)的準確性。IR-VASE是紅外橢偏儀中的*產(chǎn)品。
VUV-VASE 光譜型橢偏儀
UVV-VASE是一款真空紫外橢偏儀，通常用來測量及研究薄膜的紫外光學特性，如光刻膠等。
T-solar 光譜型橢偏儀
T-Solar是為光伏行業(yè)量身定制的一款光譜橢偏儀，無論是硅電池（絨面）還是薄膜電池，都可以用T-Solar來測量。T-Solar基于M-2000，是M-2000的一個特殊配置版。
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北京東方安諾生化科技有限公司
