OLYMPUS奧林巴斯病理切片CX33顯微鏡是一款面向教育、實(shí)驗(yàn)室和基礎(chǔ)研究的生物顯微鏡，以下將從其光學(xué)系統(tǒng)、功能設(shè)計(jì)、性能參數(shù)、應(yīng)用領(lǐng)域等方面進(jìn)行詳細(xì)介紹：

奧林巴斯CX33顯微鏡優(yōu)良的光學(xué)系統(tǒng)

UIS2 光學(xué)系統(tǒng)：采用 UIS2（Universal Infinity System 2）無限遠(yuǎn)光學(xué)矯正系統(tǒng)，齊焦距離為國際標(biāo)準(zhǔn) 45mm，能夠有效減少像差，提供清晰、準(zhǔn)確的成像效果，確保觀察到的樣品圖像細(xì)節(jié)豐富、色彩還原度高。

平場(chǎng)消色差物鏡：標(biāo)配 4X、10X、40X 平場(chǎng)消色差物鏡，可選 20X 和 100X（油鏡）。這些物鏡成像清晰，能有效減少畸變和色差，在廣闊的視野下提供高平整度的清晰圖像。

阿貝聚光鏡：配備阿貝聚光鏡，數(shù)值孔徑為 1.25（油浸時(shí)），可支持高倍率觀察，配合柯勒照明器，能確保樣品照明均勻，為觀察提供良好的光線條件。

寬視場(chǎng)目鏡：標(biāo)配 10X 目鏡，視場(chǎng)數(shù)≥20，觀測(cè)樣品時(shí)視野更大，可看到更多的細(xì)節(jié)。

奧林巴斯CX33顯微鏡人性化的功能設(shè)計(jì)

人體工學(xué)設(shè)計(jì)：30° 傾斜的三目觀察筒，符合人體工學(xué)，適合長(zhǎng)時(shí)間觀察；瞳距調(diào)整范圍為 48-75mm，適合不同用戶；所有調(diào)節(jié)旋鈕都安裝在操作者觸手可及的地方，可實(shí)現(xiàn)單手操作；低位配置的載物臺(tái)，從眼點(diǎn)位置可以廣泛看到載物臺(tái)表面，載物臺(tái)旋鈕與調(diào)焦旋鈕臨近，可同步調(diào)節(jié)。

便捷的調(diào)焦機(jī)構(gòu)：載物臺(tái)高度調(diào)節(jié)粗調(diào)行程為 15mm，可以進(jìn)行張力調(diào)節(jié)，有粗調(diào)限位，避免標(biāo)本或物鏡的損傷；細(xì)調(diào)焦旋鈕最小調(diào)節(jié)幅度為 2.5μm。

防霉設(shè)計(jì)：在三目觀察筒、目鏡、物鏡都做了抗菌、防霉處理，有效防止因霉菌滋生而影響觀察效果和儀器壽命。

奧林巴斯CX33顯微鏡穩(wěn)定的性能參數(shù)

載物臺(tái)：鋼絲傳動(dòng)，無齒條結(jié)構(gòu)，載物臺(tái)高度為 140mm。機(jī)械固定載物臺(tái)尺寸為 211mm×154mm，移動(dòng)范圍為 X:76mm，Y:52mm，載物臺(tái) XY 移動(dòng)可鎖定。

照明系統(tǒng)：內(nèi)置 LED 透射光照明系統(tǒng)，功率 2.4W（額定值），LED 光源壽命長(zhǎng)達(dá) 60000 小時(shí)，亮度穩(wěn)定，且在任何亮度條件下色溫均能保持恒定。

物鏡轉(zhuǎn)盤：與顯微鏡機(jī)身固定的內(nèi)旋式 5 孔物鏡轉(zhuǎn)盤，便于放置標(biāo)本。

額定電壓 / 電流：AC100-240V，50/60Hz，0.4A。

OLYMPUS奧林巴斯病理切片CX33顯微鏡廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域

臨床教學(xué)：在醫(yī)學(xué)院校、醫(yī)學(xué)培訓(xùn)機(jī)構(gòu)等臨床教學(xué)場(chǎng)景中，可供學(xué)生觀察病理切片、細(xì)胞樣本等，幫助學(xué)生直觀地了解人體組織、細(xì)胞的結(jié)構(gòu)和病變特征，輔助教學(xué)講解，提高教學(xué)效果。

臨床診斷：在醫(yī)院的病理科、檢驗(yàn)科等部門，可用于常規(guī)病理切片分析，如觀察血液細(xì)胞形態(tài)、組織切片中的病變細(xì)胞，輔助醫(yī)生進(jìn)行疾病的診斷和分析。

基礎(chǔ)科研：在生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等基礎(chǔ)研究領(lǐng)域，可用于觀察細(xì)胞的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和生理活動(dòng)，研究細(xì)胞的生長(zhǎng)、分裂、分化等過程，也可用于觀察微生物的形態(tài)和結(jié)構(gòu)，進(jìn)行微生物學(xué)研究。

工業(yè)檢測(cè)：可用于一些基礎(chǔ)工業(yè)檢測(cè)工作，如觀察材料的表面結(jié)構(gòu)、微觀缺陷等，為材料的質(zhì)量控制和研發(fā)提供支持。