空間分辨力/率測試卡
產(chǎn)品編號：20211202-05
銷售廠家：固安縣雙玉儀器有限公司
空間分辨率:是指在某物體間對X線吸收具有高的差異、形成高對比的條件下，鑒別其細(xì)微結(jié)構(gòu)的能力。是指系統(tǒng)辨別兩個(gè)待測光纖的測量點(diǎn)的能力。因此，空間分辨率可以對應(yīng)為系統(tǒng)辨別兩個(gè)待測光纖的測量點(diǎn)相對應(yīng)的中頻 FIF的能力，而辨別 FIF的大小的能力與系統(tǒng)的頻譜儀的接收機(jī)帶寬密切相關(guān)。
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空間分辨力/率測試卡

產(chǎn)品編號：20211202-05

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空間分辨率:是指在某物體間對X線吸收具有高的差異、形成高對比的條件下，鑒別其細(xì)微結(jié)構(gòu)的能力。是指系統(tǒng)辨別兩個(gè)待測光纖的測量點(diǎn)的能力。因此，空間分辨率可以對應(yīng)為系統(tǒng)辨別兩個(gè)待測光纖的測量點(diǎn)相對應(yīng)的中頻 FIF的能力，而辨別 FIF的大小的能力與系統(tǒng)的頻譜儀的接收機(jī)帶寬密切相關(guān)。

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線和間距/線寬：3至50 um，16英寸

16套左8x8mm Si基座2x2mm的L&S布局

上圖為大小為5μm L&S的圖像。

Au狹縫數(shù)為3行2空間。

寬度從下午3點(diǎn)到10點(diǎn)μm：t形布局

寬度15到50μm：I形狀布局LS寬度：

芯片截面

L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum

16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。

硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。

16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。

X線量的空間分布：在長軸上，近陽有效焦點(diǎn)小，X線量少；近陰有效焦點(diǎn)大，X線量多。（方位特性）。在短軸上，有效焦點(diǎn)大小對稱相等，X線量分布也對稱相等。X分辨率測試范圍：0.6到5.0 lp/mm  0.6到10 lp/mm

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