X ray分辨率測(cè)試卡
產(chǎn)品編號(hào)：20211119-11
經(jīng)銷商：固安縣雙玉儀器有限公司
寬度從下午3點(diǎn)到10點(diǎn)μm：t形布局
寬度15到50μm：I形狀布局LS寬度：
芯片截面
L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。
硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。
16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si

X ray分辨率測(cè)試卡

產(chǎn)品編號(hào)：20211119-11

經(jīng)銷商：固安縣雙玉儀器有限公司

寬度從下午3點(diǎn)到10點(diǎn)μm：t形布局

寬度15到50μm：I形狀布局LS寬度：

芯片截面

L/S寬度：3，4，5，6，7，8，9，10，15，20，25，30，35，40，45，50μum

16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。

硅芯片固定在40x30x3mm鋁上。

16個(gè)Au圖被放置在8x8mm的Si芯片上。

規(guī)格

外徑：W40xD30xT3毫米

硅基芯片尺寸8x8x0.2mm

吸附材料：Au線，厚度≥1.0μm

保護(hù)膜：聚酯薄膜，T 0.05mm

線與空間大小：3，4，5，6，7，8，9，10μm(T形布局)

2個(gè)圖案：15，20，25，30，35，40，45，50μm(僅為形狀)

線對(duì)卡的使用和維護(hù)：

線對(duì)卡是對(duì)X射線的成像進(jìn)行分辨力進(jìn)行測(cè)試的裝置，該裝置通過其本身帶有的不同的線對(duì)對(duì)X射線的成像的圖像進(jìn)行檢測(cè)，把線對(duì)卡至于X射線影像設(shè)備之下進(jìn)行曝光成像，然后觀察圖像能夠顯示出多少個(gè)線對(duì)的數(shù)量作為衡量射線設(shè)備的分辨力能力時(shí)候滿足日常檢測(cè)的分辨率的需要。

本產(chǎn)品由固安縣玉雙儀器有限公司進(jìn)行銷售，本公司經(jīng)營各種相對(duì)卡、X射線成像分辨率測(cè)試卡、相對(duì)卡空間分辨力測(cè)試線對(duì)卡、高對(duì)比度分辨力測(cè)試卡，種類齊全，銷售業(yè)務(wù)范圍廣。服務(wù)可靠，為您提供各項(xiàng)技術(shù)咨詢和指導(dǎo)，本公司將竭誠為廣大新老客戶提供滿意的服務(wù)。更多相關(guān)產(chǎn)品的詳細(xì)信息請(qǐng)咨詢固安縣雙玉儀器有限公司的相對(duì)卡的相關(guān)銷售工作人員，期待您的到來！

經(jīng)銷商：固安縣雙玉儀器有限公司

產(chǎn)品編號(hào)：20211119-11

X ray分辨率測(cè)試卡