目錄:深圳市新瑪科技有限公司>>電子負(fù)載/源載系統(tǒng)>>艾德克斯可編程電子負(fù)載>> 艾德克斯IT8512BG+直流電子負(fù)載
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更新時(shí)間：2024-01-28 18:05:00瀏覽次數(shù)：1014評(píng)價(jià)
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| 供貨周期 | 現(xiàn)貨 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
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艾德克斯IT8512BG+直流電子負(fù)載特點(diǎn)：
內(nèi)置多達(dá)8 種豐富的快充協(xié)議，滿足對(duì)于快充適配器，移動(dòng)電源、快充充電寶等產(chǎn)品的測(cè)試。同時(shí)也具備自動(dòng)測(cè)試、電池放電測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試等多種豐富的功能，滿足大部分開關(guān)電源、電池等產(chǎn)品研發(fā)階段，生產(chǎn)老化階段的性能測(cè)試需求。
七種操作模式：CC/CV/CR/CW/CR+CC/CV+CC/CR-LED
內(nèi)置電壓紋波和電流紋波量測(cè)功能
提供QC2.0、QC3.0、PE+、PE2.0+、USB PD2.0、USB PD3.0、FCP、SCP八種快充通信協(xié)議,支持快充設(shè)備測(cè)試*1
高達(dá)20kHz動(dòng)態(tài)模式
測(cè)試分辨率可達(dá)0.1mV/0.1mA
專業(yè)多通道模式，可最多級(jí)聯(lián)16臺(tái)設(shè)備，降低老化測(cè)試成本
OPP/OCP測(cè)試功能，適用于電源模塊保護(hù)功能測(cè)試
電池放電模式，提供時(shí)間，電壓和容量三種截止條件
自動(dòng)測(cè)試功能，廣泛應(yīng)用于適配器測(cè)試
List功能，可模擬復(fù)雜的電流帶載波形
電流監(jiān)控功能，無需昂貴的電流探頭，輕松實(shí)現(xiàn)電流波形監(jiān)控（0-10V）
短路模式/Measure功能
此功能僅IT8511G+具備
艾德克斯IT8512BG+直流電子負(fù)載優(yōu)勢(shì)
應(yīng)用領(lǐng)域
七種基本負(fù)載操作模式
內(nèi)置電壓/電流紋波量測(cè)功能
紋波是開關(guān)電源必測(cè)的項(xiàng)目之一，紋波過大會(huì)對(duì)待測(cè)物造成干擾或影響DUT 的使用壽命。IT8500G+ 系列提供紋波量測(cè)功能，量測(cè)帶寬高達(dá)300kHz，滿足開關(guān)電源或充電器的紋波測(cè)量。用戶可配合remote sense 功能，消除線上壓降帶來的量測(cè)影響。通過前面板的向下按鍵，可直接讀取待測(cè)物的電壓紋波值（Vpp/Vp+/Vp-）和電流紋波值（Ipp/Ip+/Ip-），無需額外的示波器，極大的簡(jiǎn)化了您的實(shí)驗(yàn)接線和操作。
內(nèi)置豐富的快充協(xié)議
隨著手機(jī)功能越來越多，對(duì)于電池電量的消耗也越來越快，而快充的發(fā)展則有力提升了用戶的產(chǎn)品體驗(yàn)。IT8500G+ 系列內(nèi)置豐富的快充協(xié)議（QC2.0、QC3.0、PE+、PE2.0+、USB PD2.0、U SB PD3.0、F CP、SCP），滿足用戶對(duì)于不同充電協(xié)議適配器的測(cè)試。用戶可通過菜單快速切換充電協(xié)議，搭配自動(dòng)測(cè)試模式，可實(shí)現(xiàn)對(duì)快充適配器的空載電壓，短路電流，及恒壓恒流不同充電階段的性能驗(yàn)證。
* 此功能僅IT8511G+具備
專業(yè)多通道模式，降低ATE集成成本
多通道模式是 IT8500G+ 系列專為優(yōu)化系統(tǒng)集成而研發(fā)設(shè)計(jì)的，利用多通道模式，系統(tǒng)集成商可以輕松實(shí)現(xiàn)數(shù)十至上百通道的硬件平臺(tái)組建，在簡(jiǎn)化通信線連接的情況下，還為每套系統(tǒng)節(jié)省昂貴的通信模塊以及通信接口擴(kuò)展卡（如 USB hub，多串口卡或交換機(jī)）等測(cè)試成本。IT8500G+ 的多通道模式，允許最多級(jí)聯(lián) 16 臺(tái)設(shè)備，意味著每 16 臺(tái)負(fù)載設(shè)備只需一根通信線與 PC 連接。假設(shè)以 60 通道的老化系統(tǒng)測(cè)試為例，使用 IT8500G+ 的多通道模式，可以節(jié)省 8 臺(tái)擴(kuò)展交換機(jī)的成本，為企業(yè)提供高效的自動(dòng)化測(cè)試解決方案
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