應用案例 
DDS 信號源在掃頻測試中的應用 
電子設計中經常碰到的問題是對待測電路(DUT)傳輸特性的測試，這里所說的傳輸特性包括增
益和衰減、幅頻特性、相位特性和時延特性等，而zui常見的就是 DUT 的幅頻特性。 
zui初，對于 DUT 的幅頻特性的測試是在固定頻率點上逐點進行。這種測試方法繁瑣、費時，
且不直觀，有時還會得出片面的結果。例如，測量點之間的諧振現(xiàn)象和網絡特性的突變點常常被漏
掉。 
DDS(Direct Digital Synthesis)技術是1971年3月由美國學者J.Tierncy, C.M.Rader和B.Gold
提出，這是一種從相位概念出發(fā)直接合成所需要波形的全數(shù)字頻率合成技術。  

DDS 技術的出現(xiàn)使得我們對于幅頻特性的測試變得異常簡單。我們只需要按照某種規(guī)律不斷
的配置“頻率碼 K"，就能夠得到一個頻率隨時間按照此規(guī)律在一定頻率范圍內掃動的信號，如此
即可對 DUT 進行快速、定性或定量的動態(tài)測試。因此，對 DUT 的調整、校準及故障排除提供了極
大的便利。 
北京普源精電(RIGOL)推出的DG5000系列函數(shù)/任意波形發(fā)生器采用了DDS直接數(shù)字合
成技術，可生成穩(wěn)定、、純凈和低失真的輸出信號。本文僅以 DG5000 為例來詳細說明 DDS
信號源在掃頻測試中的具體應用。 
1. DG5000 提供1uHz～250MHz 的掃頻范圍； 
2. 掃頻類型支持“線性掃頻"、“對數(shù)掃頻"和“步進掃頻"； 
3. 掃頻時間 1ms～300s，同時支持“返回時間"、“起始保持"和“終止保持"的設置； 
4. 觸發(fā)方式包括“自動觸發(fā)"、“外部觸發(fā)"和“手動觸發(fā)"； 
5. 支持“標記頻率"的設置，可以輕易表示出掃頻信號任意點的頻率值。 

模擬濾波器頻響測試 
在近代通信設備和各類控制系統(tǒng)中，濾波器的應用極為廣泛，濾波器的優(yōu)劣直接決定產品的優(yōu)
劣，所以，對濾波器的研究和生產歷來為各國所重視。 
 
濾波器的分類有很多種，按頻率通帶可分為低通、高通、帶通和帶阻等等，濾波器產品和實現(xiàn)
方案也是多種多樣的。
 
DG5000 提供“線性掃頻"和“對數(shù)掃頻"兩種掃頻方式，“線性掃頻"是指輸出頻率以恒定
的“每秒若干赫茲"的方式改變，“對數(shù)掃頻"是指輸出頻率以恒定的“每秒倍頻程"的方式改變。 

“對數(shù)掃頻"適合寬頻帶的粗略掃描，“線性掃頻"適合窄頻帶的掃頻，如果用“線性掃
頻"對寬頻帶進行掃描，必然會造成低頻段分辨率的丟失，從而無法得到正確的頻響。因此，對于
寬頻帶的掃描，首先用“對數(shù)掃頻"來縮小目標頻帶的范圍，然后用“線性掃頻"來確定的頻
響特性。
通過示波器顯示的掃頻信號包絡即為該濾波器的頻響曲線。此外，“標記頻率"可以快速準確
的標出掃頻周期中任意點的頻率值。所以，通過手動調整“標記頻率"，使得 Mark 信號的下降沿
至頻響曲線的-3dB 處，那么此時的標記頻率值即為該濾波器的截止頻率?！皹擞涱l率"的測量方
法在測量 DUT 的諧振點時同樣適用。 

高分辨率數(shù)字濾波器的頻響測試 
數(shù)字濾波器頻率響應的研究是一個非常復雜的課題。很多文章都只在研究穩(wěn)態(tài)下的濾波器頻
響，而事實上，雷達和其它突發(fā)方式的信號都是具有瞬時特性的。一般而言，頻率分辨特性越好的
濾波器，穩(wěn)定下來所需要的時間也越長，這是因為頻響曲線越是陡峭的濾波器，其需要的抽頭就越
多、沖激響應時間就越長。例如頻譜儀的分析濾波器，在穩(wěn)態(tài)條件下有著很好的相鄰信道抑制能力，
而瞬態(tài)響應卻非常糟糕，這也符合了濾波器沖激響應理論。 
 
DG5000 的“步進掃頻"正是針對瞬態(tài)響應較差的數(shù)字濾波器測試所設計的?！安竭M掃頻"能
夠將掃頻頻帶分成若干個頻點，掃頻信號會在每個頻點上停留等長的時間。停留時間等于掃頻時間
除以分段數(shù)，用戶可以根據(jù)濾波器的特性設定掃頻時間和分段數(shù)。 

“步進掃頻"時的趨勢圖如同階梯一樣，每個階梯的高度和長度皆可用戶設置，
所以，根據(jù)濾波器的特性，只要使得每個步進的停留時間能夠大于濾波器由瞬態(tài)進入穩(wěn)態(tài)的時間，
就可準確測試出濾波器的頻響特性。此外，通過調整每個步進的停留時間，也可以測定濾波器達到
穩(wěn)態(tài)所需要的時間。 
結語 
DDS 信號源應用于掃頻測試技術中，這相對于傳統(tǒng)的磁調制掃頻振蕩器、變容二極管掃頻等
技術有著得天獨厚的優(yōu)勢，相信 DDS 信號源會更廣泛的應用于掃頻測試技術，同時也為工程師們
帶來更大的便利。