恒溫箱手機電源芯片半導體測試高低溫試驗箱專業(yè)研發(fā)設(shè)計生產(chǎn)*
可靠性環(huán)境試驗設(shè)備生產(chǎn)廠商支持國內(nèi)聯(lián)保，快速送貨上門，安裝、調(diào)試、和現(xiàn)場培訓，售后無憂。聯(lián)系客服了解詳情，享受優(yōu)惠價格

                       恒溫箱手機電源芯片半導體測試高低溫試驗箱
高低溫試驗箱:適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標。

產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到國家標準GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A:低溫試驗方法，試驗B:高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫、高溫試驗及恒定溫熱試驗。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。

專業(yè)研發(fā)設(shè)計生產(chǎn)*

可靠性環(huán)境試驗設(shè)備生產(chǎn)廠商支持國內(nèi)聯(lián)保，快速送貨上門，安裝、調(diào)試、和現(xiàn)場培訓，售后無憂。聯(lián)系客服了解詳情，享受優(yōu)惠價格

                     恒溫箱手機電源芯片半導體測試高低溫試驗箱

一、用途
   適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品電子零組件，成品、半成品、半導體、化學、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗及應(yīng)力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價（快速變化）.符合 MIL-STAND.IEC,S 測試規(guī)范
    快速溫變試驗機，采用歐美之防爆把手，外觀質(zhì)感高水準，全系列日制控制器，進皆式設(shè)定，操作簡單，快速升降溫試驗箱可供作超低溫試驗，電子零組件，成品、半成品、半導體、化學、材料等個中環(huán)境測試設(shè)備。

二、試驗方法
1.GB2423.1-89 試驗 A 低溫試驗方法
2.GB2423.2-89 試驗 B 高溫試驗方法
3.IEC68-2-1 試驗 A
4.IEC68-2-1 試驗 B
5.GJB1032-90 環(huán)境應(yīng)力篩選方法

三、滿足標準
1.GB10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件
2.GB11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件
3.GB10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件
4.GB2423.1 低溫試驗、試驗A
5.GB2423.2 高溫試驗、試驗B
6.GB2423.22 溫度變化試驗、試驗N
7.IEC68-2-1 試驗A
8.IEC68-2-2 試驗B
9.IEC68-2-14 試驗N

 

六、技術(shù)參數(shù)

升降溫速率：3℃/分, 5℃/分, 8℃/分,10℃/分,15℃/分鐘線性平均或非線性平均.
非線性時可達25℃/分鐘,若需特殊規(guī)格請洽詢本公司.
控制穩(wěn)定度：&plsmn;0.5℃
分布均勻度：&plsmn;1.5℃
溫度偏差：≤&plsmn;2℃
正常升溫時間：-70℃~150℃小于60分;-40℃~150℃小于50分;-20℃~150℃小于35分.
正常降溫時間：+20~-70℃小于70分;+20~-40℃小于55分;+20~-20℃小于35分.
內(nèi)箱材質(zhì)：SS 304#鏡面不銹鋼板
外箱材質(zhì)：特殊防銹處理之鋼板噴塑或SS304#紋路處理之不銹鋼.
保溫層材質(zhì)；P發(fā)泡+玻璃棉.
底座材質(zhì)：國標角鐵+槽鋼.
冷凍系統(tǒng)；風冷或水冷式歐美原裝進口半封閉或封閉壓縮機組,散熱片式自動負載容量調(diào)整蒸發(fā)器.
加熱系統(tǒng)：加熱器:不銹綱鰭片散熱管型加熱管加熱空氣循環(huán)方式.
安全保護裝置：無熔絲過載探保護,壓縮機過熱, 過流,超壓,加熱干燒, 箱內(nèi)超溫警報系統(tǒng).
標準配置：觀視窗(45x30cm),測試孔(￠50x1只),試料架(2組) 超溫保護器, 視窗燈.