LEPTOSKOP2042FE/NFE基本型涂層測厚儀

產(chǎn)品描述：

LEPTOSKOP2042涂層測厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚。

　　儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時(shí)提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。

　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

　　彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

LEPTOSKOP2042FE/NFE基本型涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：

　　◆　數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或　USB

　　◆　電源：電池、充電電池、USB或外接電源

　　◆　測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)

　　◆　測量速度:　每秒測量2個(gè)數(shù)值

　　◆　存儲(chǔ): zui多 9999 個(gè)數(shù)值，140個(gè)文件

　　◆　誤差:

　　涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準(zhǔn)后)

　　涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um

　　涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/- 10 um

　　涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數(shù) +/- 100 um

　　LEPTOSKOP2042涂層測厚儀附件：

　　試塊和膜片

　　探頭定位裝置　(適用于微型探頭)

　　定位輔助裝置 (適用于微型探頭)

　　電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理

　　電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的讀數(shù)或全部文件傳輸?shù)絎indows