JEOL JSM-7610FPlus 掃描/透射電子顯微鏡采用半浸沒(méi)式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察、通過(guò)r-filter分選信號(hào)等滿足各種需求的高擴(kuò)展性。浸沒(méi)式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍，可以獲得10 倍于傳統(tǒng)肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍(FEG)的探針電流，光闌角控制鏡(ALC)在探針電流增大時(shí)也能保持小束斑，兩者組合起來(lái)能提供200 nA 以上的探針電流。強(qiáng)大的High Power Optics 系統(tǒng)，從高倍率圖像觀察到EDS分析和EBSD 解析可以一直使用高分辨率的小物鏡光闌而不需要改換。光闌角控制鏡(ACL)配置在物鏡的上方，在整個(gè)探針電流范圍內(nèi)自動(dòng)優(yōu)化物鏡光闌的角度。因此，即使照射樣品的探針電流很大，與傳統(tǒng)方式相比，也能獲得很小的電子束斑。
  

　　JEOL JSM-7610FPlus 掃描/透射電子顯微鏡規(guī)格：
 

　　1.二次電子像分辨率:0.8nm(加速電壓15kV)，1.0nm(加速電壓1kV ),分析時(shí) 3.0nm (加速電壓 15 kV, WD8mm, 探針電流5nA )
 

　　2.加速電壓:0.1～30kV
 

　　3.探針電流:數(shù)pA～200nA
 

　　4.電子槍:浸沒(méi)式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
 

　　5.透鏡系統(tǒng):聚光鏡、光闌角控制鏡、半浸沒(méi)式物鏡
 

　　6.樣品臺(tái):全對(duì)中測(cè)角樣品臺(tái)、5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)
 

　　7.電子檢測(cè)器系列:高位檢測(cè)器、r‐過(guò)濾器內(nèi)置、低位檢測(cè)器
 

　　8.自動(dòng)功能:自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消象散、自動(dòng)亮度/襯度調(diào)節(jié)
 

　　9.圖像觀察用:液晶顯示器
 

　　10.屏幕尺寸:23英寸寬屏