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HORIBA攜多款產品亮相第十九屆全國光散射學術委員會
12月1-5日,第十九屆全國光散射學術委員會(CNCLS19)在廣州中山大學召開。HORIBA科學儀器事業(yè)部攜相關產品出席此次會議。
CNCLS19會議內容廣泛,涉及拉曼、熒光、小角散射等光散射技術和表面等離子體光學及表面增強光譜,以及光譜在新材料、生物、醫(yī)學、食品安全等領域的應用等。在12月3日的技術交流報告分會場,HORIBA技術專家魯逸林博士為大家介紹了超低波數、DuoScan、普通拉曼光譜快速成像,NanoRaman等技術;以及如何運用這些技術表征二維材料缺陷、層數、晶界、電勢等,其中TRES技術因其納米級別的分辨率和高靈敏度受到與會者的廣泛關注。
此次光散射盛宴上,HORIBA不負眾望,現場展示了多臺先進儀器產品,如靈活化顯微拉曼系統、臺式一體化拉曼光譜儀和納米粒度儀等,讓與會者近距離接觸儀器,了解產品性能。同時HORIBA還開辟了現場互動通道,與會者就自己遇到的實際問題與HORIBA技術專家們現場溝通,獲取*的解決方案。
靈活化顯微拉曼系統,由顯微共焦模塊和光譜儀探測系統組成,具有結構簡單、操作方便、性價比高、光路準直快速的特點,并且可以方便地添加和升級各種光學元件,能夠實現特定激光波長的低波數測試,滿足多種多樣的測試需求。
臺式一體化拉曼光譜儀 Micro-Raman可用于固液樣品拉曼信號的測試分析,通過激光探頭收集背散射拉曼信號,結構設計靈活緊湊,內部集成了平場像差校正光柵光譜儀和深度制冷背照射高靈敏度CCD探測器,多種測試附件和遠程探頭可選,可在樣品倉外測試較大和不規(guī)則樣品,使用Labspec6軟件,操作界面友好直觀,功能強大,使用簡便,安全可靠,適用工業(yè)測量需求。
SZ-100 納米顆粒分析儀是靈活的描述小顆粒物理性質方面分析工具,如zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定;還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。SZ-100納米顆粒分析儀典型應用包括納米顆粒、膠體、乳液以及亞微米懸浮液。
12月4日大會閉幕式上頒發(fā)了“青年論文獎”和“墻報獎”,HORIBA科學儀器事業(yè)部中國區(qū)總濮玉梅女士作為頒獎嘉賓為獲獎選手頒獎。
青年論文獎”頒獎嘉賓跟獲獎者合影
本次會議,注冊參會人數450余人,共收到來自英國、德國、韓國、新加坡、港澳地區(qū)、國內90余家高校和科研院所的論文投稿300余篇,其中大會特邀報告6篇,分會邀請報告43篇,分會口頭報告63篇,墻報160多篇。
這是一屆成功的會議,CNCLS19充分展現了我國光散射研究所呈現的繁榮景象。第二十屆全國光散射學術會議(CNCLS20)將由蘇州大學和廈門大學聯合舉辦,于2019年來到“人間天堂”蘇州。HORIBA期待與您相聚蘇州,再譜新篇!
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結合旗下具有近 200 多年發(fā)展歷史的 Jobin Yvon 光學光譜技術,HORIBA Scientific 致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進的檢測和分析工具及解決方案。如:光學光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進檢測技術。今天HORIBA 的高品質科學儀器已經成為科研、各行業(yè)研發(fā)及質量控制的。