半導(dǎo)體在電視、智能設(shè)備、顯示屏等方面有著廣泛的應(yīng)用。那么我們該如何識別半導(dǎo)體沾污、獲得應(yīng)力表征、膜厚分析、超晶格結(jié)構(gòu)、晶體管、介電材料等信息呢？

10月30日，4大講師深度剖析

如何利用光譜技術(shù)分析半導(dǎo)體材料？

只要準(zhǔn)備電腦和網(wǎng)絡(luò)，即可參與

1 孫正飛

研究方向：光學(xué)光譜、熒光等

負(fù)責(zé)光學(xué)光譜儀的應(yīng)用支持，光學(xué)背景深厚?？筛鶕?jù)用戶實際需求提供優(yōu)異靈活的的光譜測試方案，包括光致發(fā)光、拉曼、熒光、透射/反射/吸收等。

2 文豪博士

研究方向：橢圓偏振光譜

畢業(yè)于上海硅酸鹽研究所，擅長光譜橢偏建模、薄膜分析，長期為用戶提供橢偏技術(shù)培訓(xùn)等工作。
 

3 武艷紅

研究方向：輝光、熒光等

輝光放電光譜儀和熒光光譜儀的，長期從事樣品測試及用戶培訓(xùn)工作，經(jīng)驗豐富?？筛鶕?jù)客戶需求提供合適的儀器配置及解決方案。

4 魯逸林博士

研究方向：SPRi、拉曼等

從事拉曼光譜、AFM和表面等離子共振成像的，負(fù)責(zé)樣品分析、數(shù)據(jù)解析、應(yīng)用方案設(shè)計、用戶培訓(xùn)等，在材料、生物、鋰電池等領(lǐng)域積累了豐富的經(jīng)驗。

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HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

結(jié)合旗下具有近 200 多年發(fā)展歷史的 Jobin Yvon 光學(xué)光譜技術(shù)，HORIBA Scientific 致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進(jìn)的檢測和分析工具及解決方案。如：光學(xué)光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進(jìn)檢測技術(shù)。今天HORIBA 的高品質(zhì)科學(xué)儀器已經(jīng)成為科研、各行業(yè)研發(fā)及質(zhì)量控制的。