這次發(fā)售的IM7580zui高可測(cè)300MHz的高頻，是能應(yīng)對(duì)高頻化發(fā)展的電子元器件的產(chǎn)品。通過(guò)IM7580zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測(cè)量速度，可以快速的檢查大批量的電子元器件，從而大幅提高電子元器件廠家的生產(chǎn)效率。

阻抗分析儀IM7580主要特點(diǎn)：

300MHz世界zui快、通過(guò)高速測(cè)量和高反復(fù)精度縮短工時(shí)、加速生產(chǎn)

測(cè)量頻率1MHz~300MHz

測(cè)量時(shí)間：zui快0.5ms

基本精度±0.72%rdg.

緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測(cè)試頭僅手掌大小

豐富的接觸檢查功能（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）

使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量

阻抗分析儀IM7580技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量模式	LCR（LCR測(cè)量），分析（掃頻測(cè)量），連續(xù)測(cè)量
測(cè)量參數(shù)	Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保證范圍	100 mΩ~5 kΩ
顯示范圍	Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度	Z: ±0.72 % rdg. θ: ±0.41°
測(cè)量頻率	1 MHz~300 MHz (100 Hz~10 kHz步進(jìn))
測(cè)量信號(hào)電平	功率 (dbm)模式: -40.0 dbm~ +7.0 dbm 電壓 (V)模式: 4 mV~1001 mVrms 電流 ( I )模式: 0.09 mA~200.2 mArms
輸出阻抗	50 Ω (10 MHz時(shí))
顯示	彩色TFT8.4英寸、觸屏
測(cè)量時(shí)間	zui快0.5ms（FAST、模擬測(cè)量時(shí)間、代表值
功能	接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取·保存、存儲(chǔ)功能、等效電路分析、相關(guān)補(bǔ)償
接口	EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN RS-232C (選件), GP-IB (選件)
電源	AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
體積和重量	主機(jī): 215W × 200H × 268D mm, 6.5 kg 測(cè)試頭: 61W × 55H × 24D mm, 175 g
附件	電源線 ×1, 測(cè)試頭 ×1, 連接線 ×1, 使用說(shuō)明書 ×1, CD-R (通訊使用說(shuō)明書) ×1

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LCR測(cè)試儀3535停產(chǎn)通知

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