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1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

經(jīng)濟型數(shù)顯電壓降測試儀1.插頭插銷與連接插頭引出線等類似接線口的電壓降.從而判斷接線口優(yōu)劣.2.適用于測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等...

100A實用型直流電壓降測試儀直流恒流源，電流可測試到1000A；數(shù)顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等...

200A實用型直流電壓降測試儀直流恒流源，電流可測試到1000A；數(shù)顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等...

300A實用型直流電壓降測試儀直流恒流源，電流可測試到1000A；數(shù)顯壓降，電流，電壓；電流負載測量,測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等...

100A綜合型液晶電壓降測試儀用于電線束、插接器、開關觸點、繼電器、汽車開關等相關產品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產品使用.

200A綜合型液晶電壓降測試儀用于電線束、插接器、開關觸點、繼電器、汽車開關等相關產品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產品使用.

300A綜合型液晶電壓降測試儀用于電線束、插接器、開關觸點、繼電器、汽車開關等相關產品之接觸電阻、溫升、電壓降或負載測量，同時也適用于具有類似特性產品使用.

200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量...

1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

1400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

1600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測...

300KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,電...

500KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,電...

1000KG兩探針自動極片電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,...

300KG自動極片平面探頭電阻測試儀采用平面探頭，對被測樣品施加的壓力來分析極片整體電阻，自動加壓，壓力可設定；PC軟件界面操作，多種測量模式下實現(xiàn)壓強與電阻,...