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Moxtek公司生產的Si-PIN探測器基于公司超低噪聲的JFET電路及優(yōu)異的鈹窗技術研制而成，主要應用于手持式或臺式X射線熒光光譜儀中，作為能量分辨的探測器。
XPIN-XT探測器主要技術指標
有效探測面積：6 mm2 、 13 mm2
硅片厚度：450um、625um
鈹窗厚度：8um、25um
準直器材料：W/Co/Ti/Al
能量分辨率：6 mm2 < 170eV FWHM
13 mm2: < 230eV FWHM
峰背比：6mm2: 3600/1 @ 1keV （typical）
13mm2: 3000/1 @1keV （typical）
型號的選擇
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