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LED driver為電流源，因此有一可輸出的電壓范圍及一固定的輸出電流。在LED driver的測試上，一般常使用的方式有下列幾種：
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但是這些測試方式都有其缺點，無法*適合LED driver的測試需求。
由LED的V-I特性曲線中，可知LED有一順向偏壓VF及一導(dǎo)通電阻（Rd）。當以真實電阻為負載，其V-I特型是一直線，并無法模擬LED的特性。尤其當LED driver開機電壓上升時，電流波形不同，可能會無法開機。而傳統(tǒng)電子負載的CR及CV模式，都是以穩(wěn)態(tài)時的LED操作點為設(shè)定值，對開關(guān)機或PWM調(diào)光動態(tài)的特性，無法模擬，也可能導(dǎo)致LED driver產(chǎn)生不正常的動作或保護。而若以LED來當負載，雖能*測試LED driver。但卻有LED老化問題，及LED driver不同的輸出電壓測試上，需串聯(lián)不同顆數(shù)的LED，如此將會造成測試上與生產(chǎn)上的不便。
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