X-50使用經(jīng)典的“久經(jīng)考驗"PiN二極管技術及X射線技術為過渡金屬和重金屬提供的基礎分析。對于那些不需要測量Mg,Al,Si,S或P的用戶，X-50是wanmei的選擇。我們重新設計了這一經(jīng)典的探測器技術，并為其配備了更多的功能：內置高分辨率攝像機用于查看樣品，如焊縫；用于照片記錄或2D/3D條形碼讀取和存儲的微距相機。

標準元素包

X-50使用與其他SciAps X系列型號(最大工作電壓為40 kV)相同先進的X射線管技術進行測試，包括：Ti,V,Cr,Mn Fe,Co,Ni,Cu,Zn,W,Ta,Hf,Re,Se,Au,Pb,Bi,Zr,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb,也可以根據(jù)要求添加更多的元素。

Android與數(shù)據(jù)管理

操作安裝Android系統(tǒng)的X-50如同在使用一部智能手機。通過使用藍牙，Wi-Fi和USB,用戶可以打印，發(fā)送電子郵件并連接到幾乎任何信息系統(tǒng)以獲取實時數(shù)據(jù)。板載微距相機允許記錄照片文檔，藍牙標簽打印機提供即時硬拷貝標簽。

規(guī)格說明：

重量	1.40kg(含電池)
外形尺寸	938mmx 283mmx 4mm
激發(fā)源	標配4 W,40kV銠靶X射線光管，50 kV可選
探測器	7 mm2 PiN二極管探測器(有效區(qū)),在5.95 Mn K-alpha線處的FWHM為200eV分辨率。
應用領域	合金分析，貴金屬，土壤，礦石，汽車三元催化等
X射線濾光片	單個濾光片用于合金分析；多個濾光片用于貴金屬，土壤，礦石，汽車三元催化
使用環(huán)境溫度范圍	-12℃- 55℃
分析范圍	根據(jù)不同應用要求可測量24種元素，Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,W,Ta,Hf,Re,Se,Au,Pb,Bi,Zr,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb.也可根據(jù)用戶要求添加其他元素。
運算單元和主處理器	112GHz四核ARM Cortex A5364/32位，RAM:2GB LP-DDR3,存儲：16 GB eMMC(存儲）
脈沖處理器	12位數(shù)模轉換，80MSPS采樣率，8K通道MCA,USB2.0高速數(shù)據(jù)傳輸至主處理器；FPGA應用數(shù)字濾波用于高吞吐量脈沖處理(20 nS- 24 uS峰值時間)。
電源	插拔式可充電鋰電池，可在設備內部充電或使用外部充電器充電，交流電源。支持熱插拔更換電池。
顯示屏	3.5英寸(88.9毫米)彩色電容式觸摸屏— 400 MHz Qualcomm Adreno 3062D/3D圖形加速器
樣品監(jiān)測	內部攝像頭，用于在分析前和分析期間查看樣品，以便正確對準樣品。微距相機，用于掃描二維碼或條形碼以及照片文檔和報告生成。
通訊/數(shù)據(jù)傳輸	Wi-Fi、藍牙、USB可連接到大多數(shù)設備，包括SciAps Profile BuilderC軟件。提供SciAps云數(shù)據(jù)管理選項。
校準方法	FP基本參數(shù)法
校準檢查	外部316不銹鋼標準樣品，用于校準驗證和能量標度驗證
安全	密碼保護使用(用戶級別)和內部設置(管理員)
雙攝像頭模式	內部高分辨率相機用于樣品查看、焊接等。微距相機用于照片文檔、讀取和存儲2D/3D條形碼和QR碼。
規(guī)范	CERoHS,USFDA認證符合加拿大REDAct.

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SciAps-x-5合金分析儀規(guī)格說明

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