X熒光光譜儀采用行業(yè)的極速探測器技術(shù)——（SDD）分辨率Z低至125eV優(yōu)勢：探測面積大（面積達(dá)25mm2）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強(qiáng)，檢出限更低。
X熒光光譜儀性能優(yōu)勢
快—1秒鐘出結(jié)果
采用行業(yè)的極速探測器技術(shù)——（SDD）分辨率zui低至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達(dá)25mm2）、單位時(shí)間內(nèi)接受信息多、計(jì)數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強(qiáng)，檢出限更低
采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率，保證采集有效計(jì)數(shù)率zui高可達(dá)1000Wcps
采用大功率X光管及優(yōu)良的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢：激發(fā)效率更高
X熒光光譜儀光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點(diǎn)
多點(diǎn)測試
2D全自動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)——可實(shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測試
超小樣品檢測——zui小可測到0.2毫米
8種準(zhǔn)直器、4種濾光片快速切換功能，可根據(jù)不同樣品進(jìn)行選擇
準(zhǔn)直器zui小可達(dá)0.2毫米，針對(duì)超小樣品可準(zhǔn)確聚焦檢測
人性化的設(shè)計(jì)
更安全：X射線聯(lián)動(dòng)安全裝置——光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng)；儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)
更快捷：多點(diǎn)測試，點(diǎn)哪測哪
預(yù)約預(yù)熱：根據(jù)設(shè)定時(shí)間，儀器可定時(shí)開始測試
預(yù)約開機(jī)預(yù)熱功能：客戶可預(yù)約儀器開機(jī)時(shí)間，同時(shí)可以儀器預(yù)熱并自動(dòng)檢測、校正儀器狀態(tài)；同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī)，
關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示
會(huì)員.png)
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