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模塊化的OCS樹脂粒子分析儀 (PA66)由以下部分組成：
■粒子黑點雜質檢測儀 (PS25C）可以檢測出與產品顏色有偏差的雜質
■粒子尺寸和形狀分布測試儀 (PSSD）根據顆粒的形態(tài)特性對粒子進行分類，如大粒、小粒、聯粒、拖尾、絲發(fā)、碎屑/粉塵等。
■色度測量儀（CM3）根據記錄的色譜測量相關的色度值（黃度指數、白度指數、CIE L*a*b*等）（選項）
另一個優(yōu)勢是可將實時結果的數據傳輸到控制室 DCS 進行生產和工藝控制。
可測試的原材料
■高透明粒子
■不透明粒子
包括以下設備
■OCS 粒子黑點雜質檢測儀 (PS25C)
■OCS 粒子尺寸和形狀分布測試儀 (PSSD)
PS25C 特點
■高性能3CMOS彩色矩陣相機
■可檢測到的zui小雜質尺寸：10μm
■處理量可達25 公斤/小時，根據具體材料性能差異而不同
■結果實時可視化用于分揀缺陷顆粒的多彈片分揀系統
PSSD特點
■高速CMOS線掃描相機（單色）
■可檢測到的zui小雜質尺寸： 71 μm
■處理量可達18 公斤/小時，根據具體材料性能差異而不同
■結果實時可視化 (通過PS25C)
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