納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800
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- 公司名稱 上海百疊科技有限公司
- 品牌 Hitachi/日立
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/3/22 11:08:44
- 訪問次數 15
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光伏新能源檢測儀器 光伏膠膜用 硫化儀、門尼粘度計、拉力機、紅外、紫外分光光度計、粘度計、DSC、TGA等，傳動軸平衡機，橡塑和輪胎檢測儀器，動態(tài)疲勞試驗機，測量儀器等
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
|---|
納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800應用光干涉現象，對微細的表面形貌進行測量，可實現高性能薄膜、半導體、汽車零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量。而且還能以無損傷方式進行多層膜的層結構以及層內部的異物測量。
納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800：測量表面形貌的新標準
隨著材料不斷趨向平坦化、薄膜化及結構的微細化，人們開始要求比傳統(tǒng)的普通SPM（掃描探針顯微鏡）、觸針式粗糙度測量儀及激光顯微鏡等產品更高的測量精度。相比較利用光干涉原理的白光干涉掃描顯微鏡，納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800，使用更方便，測量精度跟高，測量范圍更大。此外，傳統(tǒng)的采用線粗的測量方式仍存在“測量位置導致的結果偏差”和“掃描方向導致的結果偏差”等重大課題。VS1800的解決對策是通過參照國際標準ISO25178規(guī)定的表面形貌評估方法來計算參數，建立測量表面形貌的新標準，從而受到了各界的關注。
原子力顯微鏡的納米尺度3D探針測量系統(tǒng)AFM5500M同樣可實現高度的分辨率為0.1nm以下，與此相比，納米尺度3D光學干涉測量系統(tǒng)VS1800的一大特點在于面內方向的測量范圍更大。發(fā)揮兩種測量系統(tǒng)各自的優(yōu)點，根據需求選擇合適的測量系統(tǒng)有利于生產率的提高。
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