ECV測試電化學cv測試儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 九域半導體科技(蘇州)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/2/18 11:07:46
- 訪問次數(shù) 509
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電化學EC-V剖面濃度測試儀可高效、準確的測量半導體材料(結(jié)構(gòu),層)中的摻雜濃度分布。選用合適的電解液與材料接觸、腐蝕,從而得到材料的摻雜濃度分布。電容值電壓掃描和腐蝕過程由軟件全自動控制。
電化學ECV剖面濃度測試儀主要用于半導體材料的研究及開發(fā),其原理是使用電化學電容-電壓法來測量半導體材料的摻雜濃度分布。電化學ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或發(fā)展半導體光-電化學濕法蝕刻(PEC Etching)很好的選擇。CVP21電化學C-V剖面濃度測量儀適用于評估和控制在半導體生產(chǎn)中的外延過程并且以被使用在多種不同的材料上,例如:硅、鍺、III-V族化合物半導體(如GaN)。