1 產(chǎn)品概述：

   探針臺是一種精密的電子測試設備，主要用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。它集成了載物臺、光學元件、卡盤、探針卡、探針夾具及電纜組件等多個部分，能夠確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號，從而進行高精度的電氣測量。探針臺根據(jù)操作方式可分為手動、半自動和全自動三種類型，每種類型都有其特定的應用場景和優(yōu)勢。

2 設備用途：

探針臺的主要用途包括：

1. 半導體測試：在晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié)，探針臺負責晶圓的輸送與定位，確保晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試，實現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測試測量。它廣泛應用于晶圓檢測、芯片研發(fā)和故障分析等應用。

2. 光電行業(yè)測試：在光電行業(yè)中，探針臺同樣用于測試光電元件和組件的性能，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

3. 集成電路測試：探針臺可用于集成電路的測試，包括功能測試、電參數(shù)測試等，幫助工程師評估和優(yōu)化集成電路的性能。

4. 封裝測試：在封裝工藝之前，探針臺可以對封裝基板進行測試，確保封裝過程中不會出現(xiàn)質(zhì)量問題。

3 設備特點

探針臺具有以下顯著特點：

1. 高精度：探針臺配備高精度的定位系統(tǒng)和微調(diào)機構(gòu)，能夠精確地將探針定位到芯片上的測試點，并實現(xiàn)穩(wěn)定的接觸，確保測試的準確性和可靠性。

2. 多功能性：探針臺可用于多種測試場景，包括晶圓檢測、芯片研發(fā)、故障分析、網(wǎng)絡測量等，具有廣泛的應用范圍。

3. 自動化程度高：全自動探針臺通常配備有晶圓材料處理搬運單元（MHU）、模式識別（自動對準）等功能，能夠自動完成測試序列，減少人工干預，提高測試效率。

4. 靈活性：探針臺可根據(jù)測試需求進行配置和調(diào)整，如可選配接入光纖，將電學探針替換為光纖，提高測試靈活性。

4  設備參數(shù)：

• 由于結(jié)合了精確的探測臺、集成的控制軟件和微調(diào)的電動定位系統(tǒng)，實現(xiàn)了出色的對準精度。

• 對具有非常小焊盤尺寸和低至微米級間距的      Micro LED 具有高精度探測能力。
       - 精密的針力控制
       - 精確的熱控制
       - 適用于不同測試環(huán)境的抗振解決方案 - 探頭接觸補償

• 集成探針卡或微定位器，用于可靠的      Micro LED 背板測量。
       - 能夠輕松 測試具有復雜焊盤布局的光學設備 - 靈活的探頭序列管理

• MPI 探針臺控制軟件提供全面的控制功能，從基本的晶圓對準、映射、探針標記檢測到部署 MPI 先進的針對準機構(gòu) （NAM） 技術。

• MPI 光子學測試系統(tǒng)采用以用戶為中心的設計，可根據(jù)您的要求靈活配置和編程。

靈活性：由于支持多種測試配方，用戶可以根據(jù)正在執(zhí)行的產(chǎn)品和測試靈活選擇或修改工作流程或編輯參數(shù)。
生產(chǎn)管理：通過直觀易用的軟件界面管理實驗室/生產(chǎn)數(shù)據(jù)。集成的實時系統(tǒng)監(jiān)控和報告功能可實現(xiàn)順暢且無人值守的測試過程。
無縫集成：借助 MPI 廣泛的儀器庫，MPI 測試系統(tǒng)可以輕松與主流第三方測量儀器對接，滿足您測試需求。