主要優(yōu)點&特點：

1、直接從樣品到結(jié)果
通過Nano-inXider智能化的設(shè)計，只需將您的樣品放置在樣品倉里即可，然后就能得到結(jié)果。過程非常簡單快捷。

樣品-
操作簡單。只需將您的樣品放置在樣品倉里即可。儀器可進(jìn)行自動校準(zhǔn)，無需用戶干預(yù)。

測試-
自動快捷的數(shù)據(jù)采集流程。X射線散射數(shù)據(jù)自動歸一化，無需用戶校準(zhǔn)。這是通過一個嵌入到全自動設(shè)備中的強(qiáng)大軟件套件，以及固定雙探測器配置來實現(xiàn)的。

分析-
儀器實時顯示的精確散射數(shù)據(jù)可用于進(jìn)行實時快速的樣品反饋，或使用我們的XSACT軟件進(jìn)行進(jìn)一步的輔助分析。分析功能選擇廣泛，只需點擊幾次就能快速獲得納米結(jié)構(gòu)參數(shù)。

報告-
XSACT生成的高質(zhì)量可發(fā)表的圖表，可以通過拖放或保存文件輕松地導(dǎo)出到其他文檔。

節(jié)約時間-
Nano-inXider能更快獲取結(jié)果更簡單地進(jìn)行數(shù)據(jù)分析
簡單易用。智能化的設(shè)計可以使研究小角散射的學(xué)者，研究材料科學(xué)的科學(xué)家及技術(shù)人員快速掌握。
具有遠(yuǎn)程操作能力和自動校準(zhǔn)，Nano-inXider將人為誤差降低，并保證重現(xiàn)性和測量可追溯性。
是開放操作實驗室的理想選擇。

+ Nano-inXider全自動工作流程
Nano-inXider數(shù)據(jù)采集軟件具有以下用戶友好的互動界面:
- 在采集過程中實時查看2D和1D數(shù)據(jù)
- 自動校準(zhǔn)
- 可追溯測試過程

無需任何用戶干預(yù)，自動工作流程可以進(jìn)行以下所有數(shù)據(jù)處理
- 從2D圖像到1D曲線的數(shù)據(jù)還原
- 強(qiáng)度歸一化
- 自動降低宇宙背景來減少寄生散射的影響

+ XSACT分析軟件
XSACT：X射線散射分析和計算工具
- 智能工作流程和用戶體驗
- 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析算法組成
- 高質(zhì)量可直接發(fā)表數(shù)據(jù)圖

2、高精度高動態(tài)范圍測量
獲取可信賴的數(shù)據(jù)，將您的注意力集中在科學(xué)和數(shù)據(jù)解釋上。
Nano-inXider可以通過測量透過樣品的強(qiáng)直通光和樣品的低散射強(qiáng)度信號來獲得高信噪比數(shù)據(jù)。
通過*的無beamstop數(shù)據(jù)采集進(jìn)行直通光測量，自動處理數(shù)據(jù)并獲得準(zhǔn)確度高強(qiáng)度。純凈光技術(shù)可以實現(xiàn)同時檢測低強(qiáng)度信號和高強(qiáng)度信號。
強(qiáng)度采集的高動態(tài)范圍直接影響數(shù)據(jù)質(zhì)量：
- 能夠檢測弱散射樣品的低強(qiáng)度散射信號
- 定量獲得粒子數(shù)、摩爾質(zhì)量、濃度、比表面積等參數(shù)
- 探測大特征尺寸，無需用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)處理

+ 純凈光技術(shù)適用于高動態(tài)范圍測量
Nano-inXider通過在*組件和儀器設(shè)計上長達(dá)15年的研發(fā)，達(dá)到了在樣品上高X射線通量與儀器產(chǎn)生的低寄生散射平衡。
純凈光技術(shù)具有以下主要組件和特點：
- 微聚焦密封管光源(30W)與單次反射多層膜聚焦鏡結(jié)合
- 自動無散射準(zhǔn)直技術(shù)
- 儀器從聚焦鏡到探測器傳感層全部在真空環(huán)境中
- 高效低噪聲混合像素光子計數(shù)探測器
- 無窗口膜的SAXS探測器

+ 無beamstop采集可得到高質(zhì)量數(shù)據(jù)
Nano-inXider無需任何beamstop就可以進(jìn)行SAXS測量，還可以同時采集透過樣品的直通光和非常低強(qiáng)度散射信號。
通過*的無beamstop數(shù)據(jù)采集可實現(xiàn)高動態(tài)范圍的數(shù)據(jù)收集。
在整個的采集過程中記錄直通光，使透射測試更準(zhǔn)確，從而使散射強(qiáng)度校正更準(zhǔn)確。
另外，被測量的直通光（分辨率函數(shù)）會被整合到數(shù)據(jù)分析中來提高測量結(jié)果的質(zhì)量。
Xenocs無beamstop數(shù)據(jù)采集實現(xiàn)了取決于樣品的自動qmin測量，并且消除了beamstop邊緣的寄生散射，從而在低q區(qū)域獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)。

+ 降低宇宙背景
自動去除宇宙背景可以減少環(huán)境寄生散射的影響。

3、同時從原子級別到納米尺寸
無需重復(fù)SAXS和WAXS測試，您可以在一次曝光內(nèi)同時得到所有測量結(jié)果。
Nano-inXider智能化雙探測器設(shè)計，可以在一次曝光內(nèi)同時檢測到原子尺度信息和納米結(jié)構(gòu)。設(shè)備占地面積小的垂直設(shè)計，樣品到探測器距離長，可以測量大的特征尺寸。
這些配置可以提供以下優(yōu)勢：
- 您可以在一次曝光內(nèi)獲得納米結(jié)構(gòu)信息和原子尺度信息。無需重復(fù)實驗。
- 由于在SAXS和WAXS中分析的是相同體積的樣品，因此對于非均勻樣品也能獲得明確的數(shù)據(jù)。
- 在原子和納米尺度上探測樣品結(jié)構(gòu)是同步的，這對于原位研究是必要的。

+ 雙固定探測器設(shè)計便于同時進(jìn)行SAXS和WAXS測量
Nano-inXider的樣品和探測器都是固定的。可選的WAXS探測器配置擴(kuò)大了散射范圍，可以無縫銜接SAXS探測器，得到的數(shù)據(jù)達(dá)到2θ=60°。

垂直設(shè)計有以下優(yōu)勢：
- 杜絕配置選錯的可能，真正的易于操作。 
- SAXS和WAXS數(shù)據(jù)部分重疊，獲取完整q值范圍內(nèi)強(qiáng)度匹配的合并數(shù)據(jù)。
- 無需校準(zhǔn)或調(diào)整樣品到探測器距離。
- 同時對原子尺度和納米尺度結(jié)構(gòu)進(jìn)行了探測，可以為原位研究提供清晰的數(shù)據(jù)。

+ 虛擬探測器能夠增大各向異性樣品或纖維的方位角覆蓋

對于纖維或取向薄膜等各向異性樣品，Nano-inXider配備一個樣品旋轉(zhuǎn)臺可以獲得各向異性散射信號。自動采集包括以下步驟:
- 在連續(xù)曝光期間，樣品臺圍繞X射線旋轉(zhuǎn)
- 自動合并獲得的圖像
- 展示高方位角的2D圖譜（儀器檢測的所有q范圍，即使高達(dá)2θ=60°，方位角覆蓋都大于200°）

4、低成本
通過每天獲得的納米級信息，來加快您的材料加工流程或驗證您的研究模型。
- 儀器的垂直設(shè)計減少了占用的實驗室空間
- 方便技術(shù)人員操作
- 儀器的高使用率帶來了科研成果的高產(chǎn)率
- 更環(huán)保
Nano-inXider低成本的特點主要得益于它的緊湊型設(shè)計和操作成本低。

+ 緊湊型儀器
- 占地面積 < 1×1 m2
- 重量 ≈ 520 kg
- 一體化設(shè)備
- 容易安裝水平樣品

+ 操作成本低
- 平均功耗低 ≈ 700 W
- 儀器兩年質(zhì)保
- 質(zhì)保三年的免維護(hù)光源
- 簡潔且堅固