Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/28 13:21:29
- 訪問次數(shù) 1003
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡
利用亞納米分辨率和高材料對(duì)比度進(jìn)行納米材料表征和分析
Verios 5 XHR SEM掃描電鏡的主要特點(diǎn)
SmartAlign 技術(shù)
使用 SmartAlign 技術(shù)時(shí)，用戶無需對(duì)電子束鏡筒進(jìn)行任何對(duì)中，這不僅能最大限度地減少維護(hù)，還能提高電鏡生產(chǎn)率。
創(chuàng)新的電子光學(xué)系統(tǒng)
包括 Thermo Scientific 獲得的 UC+（單色器）電子槍、ConstantPower 透鏡和靜電掃描，可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確穩(wěn)定的成像。
亞納米級(jí)分辨率
Elstar Schottky 電子源單色器（UC+）FESEM 技術(shù)和性能，實(shí)現(xiàn)從 1 至 30 keV 的亞納米級(jí)分辨率。
一致的測(cè)量結(jié)果
Verios 掃描電鏡非常適合實(shí)驗(yàn)室計(jì)量應(yīng)用，能夠在高放大倍數(shù)下校準(zhǔn)經(jīng) NIST 認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)品。
低劑量操作和最佳對(duì)比度選擇
結(jié)合了先進(jìn)的高靈敏度、鏡筒內(nèi) & 透鏡下探測(cè)器和信號(hào)過濾功能 可實(shí)現(xiàn)低劑量操作和最佳襯度選擇。
輕松訪問射束著陸能量
低至 20 eV 也可實(shí)現(xiàn)用于真正的表面表征的分辨率。
無人照看的 SEM 運(yùn)行
借助 AutoScript 4 軟件，可選配基于 Python 的應(yīng)用程序編程界面 (API)。
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡規(guī)格
電子束分辨率 |
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標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器 | ETD、TLD、MD、ICD、射束電流測(cè)量、Nav-Cam+、IR 攝像機(jī) | |
可選檢測(cè)器 | 可選檢測(cè)器 | EDS、EBSD、RGB 陰極發(fā)光、拉曼、WDS 等 | |
載物臺(tái)偏倚（光束減速、可選） | 標(biāo)準(zhǔn)配置包括高達(dá) -4000 V | |
樣品清潔 | 標(biāo)配配置包括集成式等離子清洗裝置 | |
樣品操縱 | Verios 5 UC
| Verios 5 HP
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腔室 | 379 mm 內(nèi)徑、21 個(gè)端口 | |
軟件選項(xiàng) |
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大腔室
可從兩種高精確穩(wěn)定的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)中進(jìn)行選擇。
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