產(chǎn)品關(guān)鍵詞：電致發(fā)光測(cè)試儀、電致發(fā)光量子效率測(cè)量系統(tǒng)、外量子效率測(cè)量系統(tǒng)、光譜功率分布（λ）測(cè)量系統(tǒng)、電功率密度測(cè)量系統(tǒng)、發(fā)光特性測(cè)試系統(tǒng)、電致發(fā)光量子效率測(cè)試系統(tǒng)、發(fā)光量子產(chǎn)率測(cè)量系統(tǒng)、光電特性測(cè)試、量子產(chǎn)率測(cè)量?jī)x、積分球光譜測(cè)試儀、發(fā)光特性測(cè)量?jī)x、IVLλ、有機(jī)發(fā)光二極管綜合性能測(cè)試系統(tǒng)、量子效率測(cè)試儀、量子效率測(cè)試系統(tǒng)

Product Keywords: Electroluminescence tester, electroluminescence Quantum efficiency Measurement System, External Quantum Efficiency Measurement System, Spectral Power Distribution (λ) measurement system, electric power density measurement system, Luminescence characteristic test system, Electroluminescence quantum Efficiency Test System, Luminescence quantum Yield Measurement System, photoelectric characteristic test, quantum Yield measurement instrument, integrating sphere Spectrum tester, Luminescence characteristic measurement instrument, IVLλ, organic light-emitting diode comprehensive performance test system, absolute quantum efficiency tester, quantum efficiency test system

▌ 產(chǎn)品簡(jiǎn)介

電致發(fā)光測(cè)量系統(tǒng)NovaLum是東譜科技HiOE穩(wěn)態(tài)綜合光電特性測(cè)量平臺(tái)中的重要成員，用于對(duì)電致發(fā)光樣品的性能進(jìn)行精確測(cè)量。該系統(tǒng)包括IVL測(cè)試、器件壽命測(cè)試、空間角度分布測(cè)試等功能，可以便捷、快速地得到電致發(fā)光器件全面的性能參數(shù)，如電致發(fā)光效率（電流效率、功率效率、外量子效率等）、光度學(xué)、色度學(xué)、穩(wěn)定性、發(fā)光角度分布等相關(guān)性能參數(shù)。該設(shè)備很好地解決了行業(yè)上：（1）利用分光輻射度計(jì)測(cè)試時(shí)，存在低亮度測(cè)試速度慢、高亮度過(guò)曝的問(wèn)題，從而不能用于易老化器件的測(cè)試，也不適宜用于寬亮度范圍的器件測(cè)試；（2）利用積分球系統(tǒng)測(cè)試時(shí)，無(wú)法得到準(zhǔn)確的前向亮度參數(shù)，且高亮度時(shí)也存在過(guò)曝問(wèn)題，不能對(duì)強(qiáng)發(fā)光樣品進(jìn)行測(cè)試等的問(wèn)題。

▌ 產(chǎn)品特點(diǎn)

□ 可以得到準(zhǔn)確的亮度，因而適宜OLED、鈣鈦礦LED、量子點(diǎn)LED、顯示屏等面光源的測(cè)量。

□ 配備自動(dòng)化的角度分辨測(cè)試功能，可以快速得到樣品發(fā)光的空間分布特性。

□ 配備了穩(wěn)定性測(cè)試功能，進(jìn)行老化測(cè)試，具有寬的亮度檢測(cè)范圍（<1cd/m^2 ~999900 cd/m^2 ）。

□ 可以進(jìn)行各種環(huán)境的測(cè)試，如氣體氛圍、器件不封裝轉(zhuǎn)移測(cè)試等，同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)手套箱內(nèi)快速換樣測(cè)試。

□ 配備自動(dòng)對(duì)焦和觀察、自動(dòng)位移、自動(dòng)子器件切換等系統(tǒng)，可以極大地提升測(cè)試效率。

▌ 產(chǎn)品功能

□ 多種掃描模式：電壓掃描、電流掃描、角度掃描、時(shí)間掃描。

□ 分段循環(huán)電流、電壓掃描：可以研究器件的遲滯效應(yīng)等。

□ 實(shí)時(shí)測(cè)量：可以實(shí)時(shí)單點(diǎn)測(cè)量，靈活判斷器件的工作情況。

□ 兩線/四線測(cè)量：四線測(cè)量可更加準(zhǔn)確地測(cè)量器件的電流電壓。

□ 自動(dòng)切換器件：通過(guò)軟件選擇測(cè)量的子器件。

□ 自動(dòng)積分時(shí)間：避免因?yàn)榱炼冗^(guò)低導(dǎo)致測(cè)不出信號(hào)、或亮度過(guò)高導(dǎo)致的過(guò)曝的問(wèn)題。

□ 配備可視化實(shí)時(shí)觀察及位移系統(tǒng)：在軟件中可以實(shí)時(shí)觀察到器件的表面發(fā)光情況，可軟件操作對(duì)焦。

□ 自動(dòng)保存數(shù)據(jù)：測(cè)量過(guò)程中自動(dòng)保存數(shù)據(jù)，避免數(shù)據(jù)丟失等狀況。

▌ 規(guī)格參數(shù)

▌ 產(chǎn)品應(yīng)用

□ 量子點(diǎn)發(fā)光二極管（QLED）

□ 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）

□ 發(fā)光二極管（LED）

□ 鈣鈦礦發(fā)光二極管（PeLED）

□ 其它各種類型的電致發(fā)光器件

▌ 測(cè)試案例

LED器件測(cè)試示例

顯示屏測(cè)試示例