AFM-in-SEM
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 奧達(dá)科學(xué)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2023/8/11 15:32:33
- 訪問次數(shù) 3237
產(chǎn)品標(biāo)簽
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動(dòng)態(tài)超快掃描和透射電子顯微鏡，高通量材料化學(xué)透射電鏡，超高通量生物透射電鏡，原位透射電鏡，原位掃描電鏡，原位原子力顯微鏡，原位原子力與掃描關(guān)聯(lián)電鏡，便攜式EDX掃描電鏡
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源,航空航天 |
|---|
LiteScop 是一種特殊的原子力顯微鏡 (AFM)，"即插即用"，專為集成到掃描電子顯微鏡 (SEMs) 中而設(shè)計(jì)。
新穎的探針和電子顯微鏡關(guān)聯(lián)(CPEM) 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)精確的快速 AFM 和 SEM 數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)。
• 快速、即插即用地集成到 SEM 中
• 兼容FIB、GIS、EDX等標(biāo)準(zhǔn) SEM 附件
• 高度可定制
• 也可用作獨(dú)立的原子力顯微鏡
關(guān)鍵技術(shù)優(yōu)勢(shì)
1、復(fù)合且相關(guān)的樣品分析
關(guān)鍵的 CPEM 技術(shù)可以同時(shí)采集 AFM 和 SEM 通道并將它們無縫關(guān)聯(lián)到 3D圖像中。
2、原位樣品表征
SEM 內(nèi)部的原位條件可確保在相同時(shí)間、相同地點(diǎn)和相同條件下進(jìn)行樣品分析。
3、精確定位感興趣區(qū)域
極其精確和省時(shí)的方法使用 SEM 將 AFM 針尖導(dǎo)航到感興趣的區(qū)域，從而實(shí)現(xiàn)快速和輕松的定位。
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