CUBE-Ⅱ Plus 山東臺(tái)式電鏡

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱 鉑瑞達(dá)（北京）科技有限公司
品牌 EM科特
型號(hào) CUBE-Ⅱ Plus
產(chǎn)地
廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2022/4/6 13:59:58
訪問(wèn)次數(shù) 1422

產(chǎn)品標(biāo)簽

掃描電鏡掃描電鏡能譜一體機(jī)臺(tái)式掃描電鏡掃描電子顯微鏡桌面掃描電鏡

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公司介紹 主營(yíng)產(chǎn)品

EM科特（EmCrafts）是臺(tái)式掃描電鏡制造商，公司2010年成立于韓國(guó)首爾，中國(guó)區(qū)總部位于北京。

掃描電子顯微鏡是從材料科學(xué)和生物技術(shù)到納米技術(shù)應(yīng)用的重要工具之一，掃描電鏡技術(shù)也是納米材料以及半導(dǎo)體材料等基礎(chǔ)產(chǎn)業(yè)發(fā)展的強(qiáng)力基石。EM科特始終保持*前瞻性的探索精神，專注于臺(tái)式/桌面掃描電鏡技術(shù)的研究與開(kāi)發(fā)，致力于為全球高校、企業(yè)及科研院所提供便捷、高效、精準(zhǔn)的桌面掃描電鏡解決方案及桌面電鏡相關(guān)的技術(shù)支持與檢測(cè)服務(wù)。

EM科特公司注重繼續(xù)研發(fā)的同時(shí)也保證產(chǎn)品的高質(zhì)量，目前在東北、華北、華東、華南、華中，西南、西北等地區(qū)均設(shè)有專業(yè)的售前售后服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)，為客戶提供24小時(shí)全天候響應(yīng)式服務(wù)，滿足各界人士對(duì)掃描電子顯微鏡技術(shù)的需求。

EM科特以創(chuàng)新作為企業(yè)發(fā)展的基本動(dòng)力，以開(kāi)拓、專注作為研發(fā)的驅(qū)動(dòng)力，憑借強(qiáng)大的科研創(chuàng)新能力，引導(dǎo)材料領(lǐng)域行業(yè)發(fā)展。

展開(kāi)

掃描電鏡，臺(tái)式掃描電鏡，掃描電子顯微鏡，臺(tái)式電鏡

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

背散射電子圖像分辨率	10nm	產(chǎn)地類別	進(jìn)口
二次電子圖象分辨率	5nm	放大倍數(shù)	10x-200000x
加速電壓	1-30kV	價(jià)格區(qū)間	面議
儀器種類	鎢燈絲	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,石油,地礦,能源,電子/電池

一、山東臺(tái)式電鏡產(chǎn)品介紹

EM科特（EmCrafts）CUBE-Ⅱ Plus臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)是一款桌面緊湊型掃描電子顯微鏡。區(qū)別與傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機(jī)身，Cube系列占地面積小，便攜性能好，可遵照客戶服務(wù)指南任意移動(dòng)SEM設(shè)備。

EM科特（EmCrafts）CUBE-Ⅱ Plus掃描電鏡能譜一體機(jī)提供5軸共心樣品臺(tái)（電動(dòng)或手動(dòng)）的臺(tái)式SEM。中心傾斜對(duì)于3D重構(gòu)功能至關(guān)重要。

二、山東臺(tái)式電鏡技術(shù)亮點(diǎn)

l高分辨率,與傳統(tǒng)SEM一樣優(yōu)異；

l高空間利用率和便攜性，易于移動(dòng)?？砂惭b在任何地方；

l無(wú)需等待：抽氣90秒/排氣10秒；

l高度可靠的高壓組件；

l無(wú)需對(duì)準(zhǔn)電子槍；

三、臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)技術(shù)指標(biāo)

四、在硅太陽(yáng)能電池觀察中的應(yīng)用

綜述：

太陽(yáng)能電池又稱為“太陽(yáng)能芯片"或“光電池"，是一種利用太陽(yáng)光直接發(fā)電的光電半導(dǎo)體薄片。它只要被滿足一定照度條件的光照到，瞬間就可輸出電壓及在有回路的情況下產(chǎn)生電流。在物理學(xué)上稱為太陽(yáng)能光伏。太陽(yáng)能芯片的表面微觀形貌、原料和工藝對(duì)電池電性能影響很大，需要掃描電鏡進(jìn)行觀測(cè)，從而控制電池質(zhì)量。

試驗(yàn)方法：

取不同工藝進(jìn)程的電池芯片直接放入掃描電鏡中觀察?？焖儆^察模式，照相時(shí)間 10s

結(jié)論：

EM科特掃描電鏡，可滿足硅太陽(yáng)能電池制造工藝控制檢測(cè)需要。采用CUBE臺(tái)式掃描電鏡或GENESIS系列掃描電鏡，需要切割芯片。使用VERITAS 系列掃描電鏡可觀察整塊芯片，無(wú)損檢測(cè)。

1、晶圓制絨結(jié)構(gòu)掃描電鏡圖像

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