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磁通Magnaflux 磁通Magnaflux裂紋比對(duì)器
- 公司名稱 上海玖橫儀器有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號(hào) 磁通Magnaflux
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2024/7/6 19:00:01
- 訪問(wèn)次數(shù) 1512
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測(cè)厚儀，超聲波探傷儀，渦流探傷儀，相控陣探傷儀，DR平板探測(cè)器，磁通滲透，磁通磁軛，電磁超聲測(cè)厚儀，點(diǎn)焊分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池 |
磁通Magnaflux裂紋比對(duì)器用于測(cè)量液體滲透探傷（LPI）過(guò)程中所確認(rèn)的缺陷顯示的實(shí)際尺寸。比對(duì)器件號(hào)514048，以英寸為單位測(cè)量裂紋，比對(duì)器件號(hào)514049，以公制為單位測(cè)量裂紋，比對(duì)器件號(hào)514050，已經(jīng)過(guò)Pratt & Whitney認(rèn)證。
磁通Magnaflux裂紋比對(duì)器
件號(hào):
514048 - 通用型裂紋比對(duì)器，測(cè)量范圍0.005" --- 0.125"
514049 - 通用型裂紋比對(duì)器，測(cè)量范圍0.2mm --- 3.0mm
514050 - 經(jīng)Pratt & Whitney認(rèn)證的裂紋比對(duì)器，測(cè)量范圍0.010" --- 0.180"，符合Pratt & Whitney要求（P&W 參考號(hào) - TAM 135273）
?上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀：（EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go+超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀，新款OmniScan MX3全聚焦相控陣超聲波探傷儀）；超聲波測(cè)厚儀：（27MG超聲波測(cè)厚儀、45MG超聲波測(cè)厚儀、38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀、DM5E超聲波測(cè)厚儀、CL5超聲波測(cè)厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀，ETG-100電磁高溫測(cè)厚儀）；超聲波探頭；定制相控陣探頭；渦流探傷儀：（NORTEC 600渦流探傷儀）；硬度計(jì)；DR平板探測(cè)器：1313DX ，1515DXT-I ，2520DX ，2530HE，4343HE， Dexela 1207 ，Dexela 1313 ，Dexela 2121S ，Dexela CMOS平板探測(cè)器 ，XRD 0822 ，XRD 1611 ，XRD 1621 ，XRD 4343RF ，XRD 3025 ，XRpad 4336 ，XRpad 4343 F ，XRpad2 3025 ，XRpad2 4336。內(nèi)窺鏡：（IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect+工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、）；脈沖發(fā)生器：（DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR）；合金分析儀：(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表
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