x射線鍍層與合金的材料分析儀

作為在生產(chǎn)測量中使用X射線熒光法的*驅(qū)，菲希爾很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料分析領(lǐng)域的巨大潛力，因而開始研發(fā)和制造工業(yè)級耐用的測量儀器。第*臺菲希爾X射線儀器在二十世紀八十年代初就已面世。從那時起，菲希爾不斷改進和研發(fā)X射線熒光技術(shù)，使得該項技術(shù)在今天居于**地位。其中的一個例子是透明的狹縫設(shè)計，從而使用戶可以與基本射線同方向查看樣品。

XDL®系列測量儀器具有電動機驅(qū)動的軸（可選）和從上至下的測量方向，可以實現(xiàn)自動串行測試。 X射線源，濾光片，光圈和檢測器的不同版本使選擇具有適合您的特定測量任務(wù)的X射線設(shè)備成為可能。

典型應(yīng)用領(lǐng)域：
   • 鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來料檢驗，生產(chǎn)監(jiān)控。
  • 研發(fā)項目
   • 電子行業(yè)
   • 接插件和觸點
   • 黃金、珠寶及手表行業(yè)
   • 測量印刷線路板上僅數(shù)個納米的Au和Pd鍍層
   • 痕量分析
   • 根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量
   • 分析硬質(zhì)鍍層材料

特征：
   • 帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。z高工作條件： 50 kV, 50W
   • X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管
   • 準直器：4個，可自動切換，從直徑? 0.1mm 到 ? 0.6 mm
   • 基本濾片：3個，可自動切換
   • 測量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)
   • 可編程XY平臺
   • 視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經(jīng)過校準的刻度標尺，而測量點實際大小也在圖像中顯示。
   • 設(shè)計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型熒光分析儀：

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。在這一應(yīng)用中，首先要準確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過1000ppm。盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低，可以很輕易達到以上的測量需求。