現(xiàn)貨YAMADA山田光學(xué)YP-150ID鹵素光源檢查燈

現(xiàn)貨YAMADA山田光學(xué)YP-150ID鹵素光源檢查燈

高亮度鹵素?zé)艄庠?/span>

• 這是用于檢查硅晶片和玻璃表面劃痕的光源。這是一種可以通過照射400,000勒克斯（30Φ）以上的光線來(lái)觀察微小劃痕的光源裝置。

• 1.樣品表面可承受400,000Lx以上的光照。

• 2、光源采用鹵素?zé)?，色溫高，照度不均小，照明非常穩(wěn)定、明亮。

• 3、采用冷鏡，使熱量的影響降低到僅為傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。

• 4.兩級(jí)切換機(jī)制，可一鍵切換高強(qiáng)度和低強(qiáng)度觀察。
  YP-150I：照度范圍：30mmφ
  YP-250I：照度范圍：60mmφ
  （YP-250I 可選擇螺旋槳風(fēng)扇型或管道風(fēng)扇型。）

規(guī)格

YP-150I和YP-250I的主要區(qū)別在于它們的檢查范圍和照度范圍?。

?檢查范圍?：YP-150I主要用于檢查6寸半導(dǎo)體晶片等較小尺寸的樣品，而YP-250I則可用于檢查8英寸半導(dǎo)體晶片等較大尺寸的樣品?

照度范圍?：YP-150I的照度范圍為φ30，而YP-250I的照度范圍為φ60，這意味著YP-250I能提供更大的照明面積和更強(qiáng)的光線集中效果? 這是區(qū)別

這是用于檢查硅晶片和玻璃表面劃痕的光源。是可以通過40萬(wàn)勒克斯（30φ）以上的光照射來(lái)觀察微小劃痕的光源裝置。1.樣品表面可承受400,000Lx以上的照度。 2、光源為鹵素?zé)?，色溫高，照度不均一性小，照明穩(wěn)定、明亮。3、采用冷鏡，使熱量的影響降低到僅為傳統(tǒng)鋁鏡的1/3。 4.兩級(jí)切換機(jī)制，一鍵切換高強(qiáng)度和低強(qiáng)度觀察。 YP-150I：照度范圍：30mmφYP-250I：照度范圍：60mmφ （YP-250I 有螺旋槳風(fēng)扇型和管道風(fēng)扇型可供選擇）

1. 晶圓表面缺陷檢測(cè)

2. 光刻工藝中的表面檢查

3. 化學(xué)機(jī)械拋光（CMP）后的表面檢查

4. 晶圓切割和封裝前的最終檢查

5. 研發(fā)與實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用

6. 質(zhì)量控制與良率提升

YP-150I在半導(dǎo)體行業(yè)中的優(yōu)勢(shì)

總結(jié)

YP-150I高強(qiáng)度鹵素?zé)粼诎雽?dǎo)體行業(yè)中廣泛應(yīng)用于晶圓制造、檢測(cè)和研發(fā)的各個(gè)環(huán)節(jié)。其高精度照明和缺陷檢測(cè)能力，為半導(dǎo)體生產(chǎn)提供了可靠的質(zhì)量保障，是提升生產(chǎn)效率和產(chǎn)品良率的重要工具。

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高亮度?素?zé)艄庠?/p>

YP-150I

YP-250I

照 射 徑

照 程度

照射距離

所?燈泡：帶?向?鏡的燈泡燈泡類型 燈 泡壽命

30ｍｍφ

超過400,000Lx140㎜

60ｍｍφ←

220㎜←

JCR15V150W（?尾）

ELC24V250W（歐司朗）

←←←←←

35?50 時(shí) 間

3,400K°

??

0?40℃強(qiáng)制?扇冷卻

? 溫 度

調(diào)

顏?

環(huán)境溫度

冷 卻 ? 式 接

?

重

部

附12φ安裝軸

附20φ安裝軸

持續(xù)

120（寬）×390±10（高）×130（深）ｍｍ

法100（寬）×350±10（高）×116（深）ｍｍ量 約1.85 ㎏

約2.7 ㎏

交流100V（200V） 5 0/60Hz

交流100V 5 0/60Hz

源

電

消費(fèi)電力

點(diǎn) 燈 ? 式

光量調(diào)整

總體變化率環(huán)境溫度

冷 卻 ? 式 ?

重

約200W直流照明型電壓調(diào)整

―

約350W←←

1% M AX（針對(duì)輸?、漂移、溫度波動(dòng)）

電源 部

←←

0?40℃強(qiáng)制?扇冷卻

135（寬）×72（高）×260（深）ｍｍ

135（寬）×72（高）×135（深）mm量 約1.55 ㎏

約2 ㎏

輸?線 2 .0m

輸出線2.0m

（內(nèi)置軟啟動(dòng)電路）（內(nèi)置過流保護(hù)電路）（帶數(shù)字儀表）

輸?線 2 .0m輸出線2.0m

腳踏開關(guān)線?：3.0m

其他的